GB/T 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
GB/T 4298-1984 The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials
国家标准
中文简体
废止
页数:19页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 4298-1984
标准类型
国家标准
标准状态
废止
发布日期
1984-03-28
实施日期
1985-03-01
发布单位/组织
国家标准局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1984年03月
研制信息
- 起草单位:
- 有色金属研究总院、中国科学院原子核研究所
- 起草人:
- 周云鹿、章家鼎
- 出版信息:
- 页数:19页 | 字数:35 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 223.11-1991 钢铁及合金化学分析方法 过硫酸铵氧化容量法测定铬量 1991-09-06
- GB/T 13170.6-1991 反射式电视测试图 余像测试图 1991-09-04
- GB/T 13170.7-1991 反射式电视测试图 棋盘格测试图 1991-09-04
- GB/T 13170.3-1991 反射式电视测试图 线性测试图B型 1991-09-04
- GB/T 13170.9-1991 反射式电视测试图 重合测试图A型 1991-09-04
- GB/T 13170.15-1991 反射式电视测试图 灰度测试图B型 1991-09-04
- GB/T 13170.2-1991 反射式电视测试图 线性测试图A型 1991-09-04
- GB/T 13170.8-1991 反射式电视测试图 辐值响应测试图 1991-09-04
- GB/T 13170.4-1991 反射式电视测试图 高频特性测试图 1991-09-04
- JJG 752-1991 锗γ谱仪活度标准装置 1991-09-04