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GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法

GB/T 15651.3-2003 Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods

国家标准 中文简体 现行 页数：26页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 15651.3-2003
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L50/54 光电子器件
国际标准分类号（ICS）
31.260 光电子学、激光设备
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
中国电子技术标准化研究所（CESI）
适用范围
-

发布历史

文前页预览

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法-第1页
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法-第2页
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法-第3页
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法-第4页

研制信息

起草单位：
华禹光谷股份有限公司半导体厂
起草人：
陈兰、那仁、王守华
出版信息：
页数：26页 | 字数：48 千字 | 开本： 大16开

内容描述

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    引用标准
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    被代替
    IEC 60270:1981
    IEC 60270:1981
    采用标准
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    IEC 60747-5-3:1997

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