GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法
GB/T 15651.3-2003 Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods
国家标准
中文简体
现行
页数：26页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 15651.3-2003
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
中国电子技术标准化研究所（CESI）
适用范围
-
发布历史
-
2003年11月
研制信息
- 起草单位：
- 华禹光谷股份有限公司半导体厂
- 起草人：
- 陈兰、那仁、王守华
- 出版信息：
- 页数：26页 | 字数：48 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CIET 125-2023 锂离子电池用高性能极薄电解铜箔技术要求 2023-07-01
- T/CWAN 0045-2020 超薄镍基高温合金激光微焊接接头质量检验方法 2020-08-10
- T/SSEA 0261-2023 搪瓷用高氧低碳钢冷轧钢板及钢带 2023-01-10
- T/CISA 042-2020 压水堆核电厂安全壳用预应力钢绞线 2020-07-22
- T/CSTM 00257-2021 油田钻具用钢 2021-08-09
- T/SDWCIA 0025-2024 质量分级及“领跑者”评价要求 电工圆铜线 2024-01-04
- T/CGA 032-2022 黄金行业水质化学分析方法 硫氰酸盐的测定 分光光度法 2022-01-18
- T/CNIA 0128-2022 汽车防撞梁总成及总成用铝合金型材 2022-01-11
- T/GDSS 003-2018 装饰用不锈钢板 2018-06-13
- T/CFA 020101141-2021 铸铁炊具 2021-01-22