GB/T 15651.6-2023 半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管
GB/T 15651.6-2023 Semiconductor devices—Part 5-6:Optoelectronic devices—Light emitting diodes
基本信息
发布历史
-
2023年09月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子科技集团公司第十三研究所、国家半导体器件质量检验检测中心、中国电子技术标准化研究院、深圳市标准技术研究院、晶能光电(江西)有限公司、山东浪潮华光光电子股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、华南理工大学、福建鸿博光电科技有限公司、广州赛西标准检测研究院有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司
- 起草人:
- 刘东月、黄杰、赵敏、刘秀娟、赵涛、胡轶、王成新、吕天刚、李宗涛、陈庆美、吴杜雄、樊磊、茹志芹、赵莉红、刘芳、李长普、赵鹏
- 出版信息:
- 页数:85页 | 字数:166 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS31.080.99
CCSL53
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT15651.62023IEC60747-5-62021
半导体器件第部分:
5-6
光电子器件发光二极管
—
Semiconductordevices
:—
Part5-6OtoelectronicdevicesLihtemittindiodes
pgg
(:,)
IEC60747-5-62021IDT
2023-09-07发布2024-04-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—/:
GBT15651.62023IEC60747-5-62021
目次
前言…………………………Ⅴ
引言…………………………Ⅵ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
、………………………
3术语和定义缩略语2
3.1一般术语和定义……………………2
3.2辐射量测试相关的术语和定义……………………5
3.3光度量测试相关的术语和定义……………………7
3.4热参量测试相关的术语和定义……………………10
3.5缩略语………………11
4绝对最大额定值…………………………11
5光电特性…………………12
6测试方法…………………14
6.1基本要求……………14
()…………………
6.2正向电压VF测试16
反向电压()测试………………
6.3VR18
()………………………
内阻测试
6.4r18
f
()…………………
6.5反向电流I测试20
R
()………………
6.6端子间电容Ct测试20
结温()和热阻((),())测试………
6.7TRth-XelRth-Xreal22
jjj
6.8响应时间测试………………………28
()……………………
6.9频率响应及截止频率fc测试30
光通量()测试…………………
6.10Φv32
辐射通量()测试………………
6.11Φe33
发光强度()测试………………
6.12I35
V
辐射强度()测试………………
6.13I37
e
亮度()测试……………………
6.14LV38
、()、()……
6.15发射光谱分布峰值发射波长λ光谱半宽度Δλ测试39
p
6.16色品坐标测试……………………40
6.17方向特性和半强度角测试………………………42
照度()测试……………………
6.18EV44
7包装标识…………………45
8质量评定…………………45
Ⅰ
/—/:
GBT15651.62023IEC60747-5-62021
8.1通则…………………45
8.2质量评定类别………………………45
8.3鉴定检验……………51
8.4逐批检验……………52
8.5周期检验……………52
8.6放宽逐批检验程序…………………52
8.7鉴定合格资格的保持………………52
8.8长期储存产品………………………53
8.9电耐久性试验………………………53
()…………
附录规范性标准光视效率
A55
()………………………
附录规范性自吸收修正因子
B59
()…………
附录规范性颜色修正因子
C61
()…………
附录规范性亮度计的校准
D63
()………………
附录规范性标准色度系统的颜色匹配函数
EXYZ64
()…………
附录规范性光谱色度坐标
F71
()……………
附录规范性照度计校准
G78
定制服务
推荐标准
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- SJ 20116-1992 舰载对空警戒雷达通用规范 1992-11-19
- SJ 20379-1993 CAF60PD集装箱型方舱规范 1993-05-11
- SJ 2584-1985 雷达设备可靠性鉴定试验及验收试验 1985-03-25
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