GB/T 16841-2008 能量为300 keV～25 MeV电子束辐射加工装置剂量学导则

ICS17．240

A58

鳕雪

中华人民共和／，、7-lH国国家标准

168451649：2005

GB／T1--2008／ISO／ASTM

158411997

代替GB／T

keV～25

能量为300

加工装置剂量学导则

Guideforinanelectronbeamforradiation

dosimetryfacility

atbetween300keVand25MeV

processingenergies

51649：2005，Standardfor

(ISO／ASTMpractice

inanelectronbeamforradiation

dosimetryfacility

at300and25

betweenkeVMeV，IDT)

processingenergies

2008—09—19发布

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局当士

中国国家标准化管理委员会及仲

GB／T16841--2008／ISO／ASTM51649：2005

目次

前言……………-…………………

1范围…………·．

2规范性引用文件………-……………-…………··

3术语与定义……………………··

4意义和用途………………………·

5辐射源特性·………………………

…………Ⅲ●●0，，0

6辐照装置的主要类型……………

7剂量测量系统………………-……………··0

…-……-

8加工参数…………0

9安装确认…-………………………

10运行确认……………--…

11性能确认…………·

12日常生产加工……·………·0¨地n

13测量不确定度…………--……………-…………M

14证书…………··M

15关键词………………·………·-

附录A(资料性附录)电子束深度剂量分布、材料加工产率和辐射加工期间的温升

附录B(资料性附录)束宽度及束宽度剂量不均匀度的测量……

附录C(资料性附录)通过深度剂量分布确定电子束能量………··

附录D(资料性附录)能量大于300keV的电子加速器的特性…·

参考文献………--………-……………M¨撕孙孙踮

GB／T51649：2005

16841--2008／ISO／ASTM

刖罱

本标准等|司采用ISO／ASTMkeV～25

51649：2005(能量为300MeV电子束辐射加工装置剂量学

导则》(英文版)。

为便于使用，本标准做了下列编辑性修改：

a)按照汉语习惯对…些编写格式进行了修改。

b)对于ISO／ASTM

51649：2005引用的其他国际标准中有被等同采用为我国标准的，本部分用

引用我国的这些国家标准或行业标准代替对应的国际标准，其余未有等效采用为我国标准的

国际标准，在本标准中均被直接引用。

c)原国际标准中的附录编号A1、A2、A3、A4改为附录A、附录B、附录C、附录D。

16841keYs25

本标准代替GB／T19976能量为300MeV电子束辐射加工装置剂量学导则》。本

l6841

标准与GB／T1997相比主要变化如下：

重新规定了标准的适用“范围”(1

997版的第1章；本版的第2章)；

增加了部分术语，并对原标准的部分术语进行了重新定义(本版第3章)；

增加了“剂量计系统的校准”条和具体的要求(见本版的7．3．1，7．3．2，7．3．3，注4)；

用“安装确认”、“运行确认”、“性能确认”和“日常生产加工”替代了“装置确认”、“加工确认”和

章)；

增加了“加工参数”章和相关内容(见本版第8章)；

增加了不确定度的分类标准和评定准则(见第13章)；

细化了用深度剂量分布方法确定电子束初始能量的方法和条件(见本版附录A)；

熏新描述了“微波功率加速器”和“射频功率型加速器”的性能特征(见本版附录D中D．1．2和

D．1．3)。

本标准的附录A、附录B、附录c和附录D为资料性附录。

本标准由全国核能标准化技术委员会提出。

本标准由全国核能标准化技术委员会归口。

本标准起草单位：中国计量科学研究院。

本标准主要起草人：张彦立、张辉、龚晓明、刘智绵、夏渲。

16841

本标准所代替标准的历次发布情况为：GB／T1997。

Ⅲ

GB／T51649：2005

16841--2008／ISO／ASTM

keV～25

能量为300Mev电子束辐射

加工装置剂量学导则

1范围

1．1本标准规定了电子束辐射加工中为保证全部产品接受到产生预期辐射效应所需的剂量，在安装确

认、运行确认、性能确认(IQ、OQ和PQ)和日常加工中所涉及的剂量测量程序，以及有关可能影响这些

过程和用以监控产品中吸收剂量的其他程序。

注1：剂量计选择和校准的指南见GB／T16640；使用剂量测量系统的专用指南见GB／T16639、ISO／ASTM51275

51

ISO／ASTM51276、ISO／ASTM431、ISO／ASTM51631、ISO／ASTM51650和ISO／ASTM

51956；对能量大

于5MeV的电子束所用较大体积剂量计的剂量测量系统指南见ASTME1026、ISO／ASTM51205、ISO／

ASTM

51401、ISO／ASTM51538、ISO／ASTM51540；有关脉冲辐射剂量学的论述见ICRU第34号报告。

1．2本标准适用的电子柬的能量范围：300keYs25MeV。

1．3剂量测量只是辐照加工全面质量管理的一个组成部分，在医疗保健产品的辐射灭菌和食品保藏等

特别应用中，除了剂量测量外，还需要进行其他方面的测量。

1．4ISO和ASTM已经颁布了适用于食品辐照和医疗保健产品专用标准。食品辐照的专用标准见

ISO／ASTM

51431，医疗保健产品的辐射灭菌的专用标准见GB18280。在使用中GB18280的规定优

先于其他标准的规定。

1．5本标准不涉及与使用相关的安全问题。本标准的使用者负责建立适用的安全和健康标准，并在使

用前确定其适用的限制范围。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

1650916509

GB／T辐射加工剂量测量不确定度评定导则(GB／T2008，ISO／ASTM51707：

2005，IDT)

16510

GB／T16510辐射加工剂量学校准实验室的能力要求(GB／T2008，ISO／ASTM51400：

2002，IDT)

1663916639

GB／T使用丙氨酸一EPR剂量测量系统的标准方法(GB／T2008，ISO／ASTM

51

607：2004，IDT)

GB／T16640

16640辐射加工剂量测量系统的选择和校准导则(GB／T2008，IsO／AsTM

51261：2002，IDT)

GB18280

18280医疗保健产品灭菌确认和常规控制要求辐射灭菌(GB2000，ISO11137：

1995，IDT)

Is0／AsTM51205使用硫酸铈亚铈剂量测量系统的实践

ISO／ASTM

51275使用辐射显色薄膜剂量测量系统的实践

Iso／AsTM

51276使用聚甲基丙烯酸甲酯剂量测量系统的实践

51401

Is0／AsTM使用重铬酸盐剂量测量系统的实践

51431

ISO／ASTM电子束和x射线(轫致辐射)装置食品加工用剂量学实践

Is0／AsTM

51538使用氯苯一乙醇剂量测量系统的实践

Is0／AsTM

51539辐射灵敏指示标签的使用指南

GB／T51649：2005

16841--2008／ISO／ASTM

1SO／ASTM

51540使用辐射显色液体剂量测量系统的实践

ISO／ASTM

51631使用量热法剂量测量系统对电子柬剂量测量和剂量计校准的实践

ISO／ASTM51650使用CTA剂量测量系统的标准实践

IsO／AsTM51956

辐射加工用热释光剂量测量系统的实践

ASTME170辐射测量与剂量学术语

ASTME1026使用Fricke参考标准剂量测量系统标准实践

ASTME2232辐射加工应用中计算吸收剂量数学方法的选择和使用指南

ASTME2303绘制辐射加工装置剂量分布曲线的导则

ICRU

34号报告脉冲辐射剂量学

ICRUMeV～50

35号报告初始能量为1MeV的电子束辐射剂量学

1CRU

37号报告电子和正电子的阻止本领

ICRU

60号报告电离辐射基本量和单位

3术语与定义

ASTME170和ICRu第60号报告确立的以及下列术语和定义适用于本标准。

3．1

吸收剂量DabsorbeddoseD

dE除以dm而得的商，即

D==dE／din

式中：

dE一一电离辐射授予质量为dm的物质的平均能量。

单位：J-kg_÷，名称为戈瑞，符号为Gy，1Gy=1J·kg。

3．2

剂量测量系统dosimetry

system

由剂量计、测量仪器、剂量响应校准曲线(或剂量响应函数)或相关的参考标准和使用程序组成的用

于确定吸收剂量的系统。

3．3

束长度beam

length

电子束在产品受照平面上垂直于电子束宽度和加速器扫描窗出射电子方向的照射野的长度(见图1)。

／／／

扫描宙～／j射碍方向；

嫂坠

扫描方向＼、、j2

，／／、N＼

宽度＼＼

>，、

输送装置——／／J、＼＼

长度

图1扫描电子束的束长和束宽在传输系统的分布示意图

51649：2005

GB／T16841--2008／ISO／ASTM

3．4

width

束宽度beam

电子束在产品受照平面上扫描方向照射野的宽度，垂直于束长和加速器扫描窗出射电子的方向(见

图1)。

说明对配置传送系统的辐射加工装置，扫描宽度通常垂直传输系统的移动方向(见图1)。束

宽是剂量分布轮廓图中最大剂量水平区域两端的距离(见图2)。可采用不同的技术使加速器产生覆盖

产品的足够宽度，例如：采用电磁扫描(此时束宽也称为扫描宽度)、散焦元件或散射箔等不同的技术，可

以把线束扩展，以扩大辐照区域。

d

霜

图2电子束沿束宽方向上的剂量分布曲线

3．5

参考面reference

plane

辐射场中，选定的垂直于电子束轴的平面。

3．6

扫描均匀性scan

uniformity

沿扫描方向所测剂量的不均匀程度。

3．7

柬斑beam

spot

未展开电子柬入射在参考面上的形状。

3．8

连续慢化近似射程“r0

电子在无限均匀介质中能量从初始能量E0降低到0所穿行的平均路程长度，可表示为：

r矗

r。一ldE／(s／p)。。．

Ju

式中：

(S／p)．叭_总质量阻止本领；

％一个理论计算值而不是在介质中沿着入射方向所穿透的深度。

单位名称为千克每二次方米，符号为kg·m。

注释确定r0值的近似方法：假定在轨迹上每点的能量损失率等于总阻止本领，能量损失的影

响可以忽略，则可以用阻止本领的倒数对能量积分的方法得到连续慢化近似射程“。

ICRU第37号报告列出了较宽能量的电子和多数材料的“值。

3．9

51649：2005

GB／T16841--2008／1SO／ASTM

distribution

深度剂量分布depth—dose

辐射束垂直于介质平面入射时，沿射束中心轴随深度变化的吸收剂量关系曲线图。

注释电子束沿束轴方向在均匀测量中产生的典型分布曲线见附录A中的图A．1和图A．2。

3．10

ratio

剂量不均匀度doseuniformity

加工负荷内最大吸收剂量与最小吸收剂量之比。

3．11

负荷周期(占空比)dutycycle

指脉冲加速器有效束流的时问分数，等于以秒为单位时间的脉冲宽度和单位时间内脉冲数的乘积。

3．12

beamcurrent

平均束流average

辐照到产品上的电子束束流的时间平均值(见图3)。

—＼l，

—＼。

))

w卜(

w卜U—

时问

图3脉冲加速器脉冲束流(I。．，)，平均束流(J。。)，脉冲宽度(w)和重复频率(，)示意图

3．13

束功率beam

power

电子束能量与平均束流的乘积。

3．14

beam

电子束能量electronenergy

电子束中加速电子的平均动能。单位：J。

cV—1．602×10”J。辐射加工中使用的

说明电子束能量通常使用的单位是电子伏特(eV)，1

电子束能谱较宽，常使用的单位是最可几能量(E，)和平均能量(E。)，用实验等式表示其

与实际射程(R。)或半值深度(Rs。)的关系。

3．15

beam

facility

电子束辐照装置electron

利用加速器为辐照产品产生高能量电子的装置。

3．16

beam

脉冲束流(J。m。)pulsecurrent(／ph)

指脉冲加速器的脉冲波形整个顶端波形平均的束流，IⅢ。一J，。／wf，其中J。，为平均束流(单位：

mA)(见图4)。

GB／T16841--2008／ISO／ASTM51649：2005

，【'u】；。

It

．∥216。4us

。

越。…V

图4S-波段直线加速器脉冲束流波形曲线

3．17

脉冲速率(f)pulserate(f)

指脉冲加速器以赫兹或每秒脉冲数表示的脉冲的重复频率，，一nit。式中n是脉冲数；t足时间；

单位：s。

3．18

width

脉冲宽度pulse

指脉冲加速器输出脉冲的一个时间参虽，表示脉冲束流波形中位于50％振幅高度(半高宽)的上升

边和F降边两点问的时间问隔(见图4)。

3．19

扫描束scannedbeam

在交变磁场作用下往复摆动的电子束。

说明为避免加速器的束出射窗或扫描盒下的产品过热，尽管可让强流电子束沿两个(束宽和束

长)方向扫描，但多数情况下还是沿一个方向(束宽)扫描。

3．20

扫描频率scannedfrequency

每秒钟完成的扫描周期数。单位：Hz。

3．21

电子能谱electronenergyspectrum

作为能量函数的电子密度分布。

3．22

电子射程electron

range

在均匀材料中沿着电子束轴线所贯穿的距离(等于电子的实际射程R。)。

注：可通过实验测量指定材料中的深度剂量分布。在剂量学文献中还有电子射程的其他形式，例如：用深度剂量数

据和连续慢化近似射程导出的外推射程。电子射程通常用单位面积的质量(g·cm_2)表示，有时也用厚度

(cm)表示某一指定材料中的电子射程。

3．23

半入射值深度(R50。)half-entrance

depth(R50c)

电子束深度剂量分布曲线中吸收剂量减少到表面入射剂量值的50％时所对应的材料厚度

(见图5)。

3．24

半值深度(R50)half-valuedepth(R50)

电子束深度剂量分布曲线中吸收剂量减少到最大值50％时所对应的材料厚度(见图5)。

5

51649：2005

GB／T16841--2008／ISO／ASTM

3．25

optimum

最佳厚度(R印。)thickness(R叩。)

在均匀材料中，吸收剂量等于与电子束入射表面处的吸收剂量所对应的厚度(见图5)。

鬟

理

捉

霉

蚓

亲

掣

督

图5典型的电子束在均匀材料中的深度剂量分布曲线

3．26

electron

实际射程(Rp)practicalrange(Rp)

电子束深度剂量分布曲线下降最陡(斜率最大处)切线的外推线与该曲线尾部韧致辐射剂量的外推

线相交点处所对应的材料深度(见图5)。

3．27

electron

外推电子射程(R。)extrapolatedrange(R。)

电子束深度剂量分布曲线F降最陡(斜率最大处)切线的外推线与深度轴相交点处所对应的材料深

度(见图5和附录A中图A．6)。

3．28

load

加工负荷(辐照产品单元)process

作为单一整体辐照、具有特定装载形态的某体积物质。

329

run

生产循环production

产品从进入辐照室(开始辐照)至离开辐照室(完成辐照)所经历的辐照全过程。

3．30

material

参考材料reference

为了确定电子束辐照过程某些特性，如扫描均匀性、深度剂量分布而采用的已知辐射吸收与散射特

性的匀质材料。

3．31

补偿模型compensatingdummy

日常生产循环期间，在产品加工负荷中所装载的产品比货物负荷配置文件的规定少时所使用的模

拟产品，或者是在生产循环开始和结束时使用的用于对产品吸收剂量进行补偿的模拟产品。

说明——在辐照装置确认期间，可用模拟产品或模体材料作为实际产品和材料的替代物进行辐照。

3．32

模拟产品simulatedproduct

与被辐照的产品、材料或物质具有相似的减弱、散射性质的材料。

6

51649：2005

GB／T16841--2008／ISO／ASTM

说明——在描述辐照装置特性时，模拟产晶作为用于实际辐照产品、材料或物质的替代物。在日常

生产过程中，模拟产品为补偿模型；在测量吸收剂量分布图时，模拟产品为模体材料。

3．33

standardized

质量深度(标准深度)(Z)depth(z)

用单位面积质量表示的吸收材料的厚度，等于材料厚度t乘以密度P。如果m是材料的质量，束流

则z的单位是千克每平方米(kg／m2)。

4意义和用途

4．1电子束辐射加工是使辐照产品或材料获得预定的吸收剂量，而达到某种要求的一种工艺。剂量测

量的要求取决于辐照工艺和产品的最终用途。剂量测量应用的辐射加工主要领域如下：

4．1．1单体的聚合与单体在聚合物上的接枝；

4．1．2聚合物的交联与降解；

4．1．3复合材料的处理；

4．1．4医疗保健产品灭菌；

4．1．5化妆品的消毒；

4．1．6食品辐照(食源和致病菌控制，杀虫和延长货架期)；

4．1．7饮用水中致病菌的杀灭；

4．1．8气体、液体和固体废物的处理；

4．1．9半导体元件的改性；

4．1．10宝石和其他材料的改色；

4．1．11材料效应的研究。

注2：对于食品保藏(见1SO／ASTM51431和参考文献[5])和医疗保健产品灭菌(见GB18280和参考文献[1]、

[2]、【3]、[4])的辐射加工，剂量测量是必须的；应把产品中的吸收剂量准确地控制在法定和工艺要求范围

内。对于材料改性的辐照加工，可以通过测量被照材料中的物理和化学辐射效应进行质虽控制，也可以应用

日常剂量监测控制辐照工艺的重复性。

4．2剂量测量是监控辐射加工(质量)的一种方法。

注3：通常用水中的吸收剂量值表征测量的剂量，这是因为多数辐照食品与医疗保健产品材料的辐射能量吸收特

性近似等效于水。在非等效的材料中的吸收剂量可按照GB／T15447进行换算。

4．3有效的辐照工艺，取决于产品是否接受达到预期所需要的最低剂量和不超过可能引起产品损坏的

最大剂量(或法定最大剂量)的辐照。剂量测量是辐射加工质量控制和评价的基础。

4．4产品中的吸收剂量分布取决于辐照单元特性、照射条件和运行参数。生产中应严格控制束特性

(如能量和束流)、束扩展和产品传输方式与速度等关键运行参数，才能获得可重现的结果。

4．5辐照工艺投入使用前，必需对辐照装置进行确认。证明该装置能以一种可重现、可控制的方式对

产品按已知的剂量辐照。这包括：加工设备的测试，设备和剂量测量系统的校准，检验模拟产品中吸收

剂量与剂量分布及它们的重现性。

4．6在辐照装置日常运行中，为了确保对产品照射某一可重现的剂量，应建立产乩辐照前、后与辐照期

间处理程序的书面文件，存档备查。其内容包括：辐照期间产品几何学条件，关键加工参数与常规产品

中吸收剂量的测量。同时应制定一系列必要的规章制度。

5辐射源特性

5．1电子加速器是利用电磁场使电子获得高能量的装置。本标准中电子束辐射源主要是指直流高压

型和脉冲调制型电子加速器(如：微波功率加速器和射频功率加速器)(详见附录D)。

7

16845T649：2005

GB／TT--200S／ISO／ASTM

6辐照装置的主要类型

6．1辐照装置的组成

6．1．1由于辐照装置的组成会影响授予产品的吸收剂量，因此在按照第8章到第1l章的要求进行剂

量测量时应考虑辐照装置的组成。

6．1．2电子束辐照装置包括电子加速器、产品传输系统，辐射安全系统，产品装卸和储存区域，供电、冷

却、通风等辅助设备，控制室，剂量测量和产品检验实验室，办公室。电子加速器系统包括加速器(见

附录D)、电子束扫描装置和相关设备”j。

6．2产品传输系统——产品传输系统会影响产品中的吸收剂量分布。通常采用的系统如下：

6．2．1传送带(车)——产品被放置在传送带(或车)上通过电子束。其传输速度的控制与电子束流和

电子束宽度相匹配，使被照射的产品接受到预定剂量。

6．2．2滚筒式输送(也称绕线轴)系统该系统用于管材、电线、电缆等连续缠绕产品的辐照。其传

输速度与电子束流和电子束宽度相匹配，使被照射的产品接受到预定的剂量。

6．2．3散装流动系统——该系统使被照射的液体或粒状产品(如谷物、塑料球)流动通过辐照区域。由

于不能控制单个产品的流动速度，因此产品的平均速度需与束特征和束扩展参数相匹配，以确定产品中

的平均吸收剂量。

6．2．4静态辐照对于高剂量加工，可将产品置于束下静止辐照。同时，应采用冷却系统降低辐照

期问产品的温升。电子束流、束长度和束宽度决定了．达到预期剂量所需的辐照时间。

7剂量测量系统

7．1剂量计级别

7．1．1按照剂量计所测量和应用范围，可将剂量计分成四个级别，即：基准、参考标准、传递标准和工

作剂量计。GB／T16640给出了有关选择不同用途剂量测量系统的规定。在使用前，除基准剂量计外，

所有级别的剂量计均应进行计量校准。

7．1．1．1基准剂量计——为了校准辐射场和其他级别的剂量计由国家标准实验室建立并维护。最常

用的基准剂量计是电离室和量热计。

7．1．1．2参考标准剂量计使用参考标准剂量计校准辐照场和工作剂量计。也可以将参考标准剂

量计用作工作剂量计。GB／T16640给出了不同应用范围所用的参考标准剂量计示例。

7．1．1．3传递标准剂量计传递标准剂量计是一种为建立辐照装置的溯源性、用于传递认可或国家

标准实验室吸收剂量信息到辐照装置而特别选择的剂量计。这种剂量计应在标准实验室特别规定的条

件下仔细使用。按照GB／T16640标准的规定，传递剂量计既可在参考标准剂量计中选择，也可以在工

作剂量计中选择。

7．1．1．4工作剂量计工作剂量计可用于辐射加工质量控制、剂量监测和测量剂量分布。应该正确

掌握剂量测量技术(包括校准技术)确保测量数据的可靠和准确。应该使用基准、参考标准或传递标准

剂量计校准过的用于日常吸收剂量测量的剂量计。GB／T16640给出了不同应用范围所用的工作剂量

计示例。

7．2应考虑影响剂量计响应的诸多因素，包括：电子束能量，平均与峰值吸收剂量率(特别是脉冲型调

制加速器)，以及温度、湿度、光照等环境条件。应该根据测量、影响因素和剂量学性能等方面的要求来

E15053、GB／T16640、JJF1017、

选择适用的剂量测量系统。ASTM1026、GB／T16639、GB／T

JJF51540、ISO／ASTM

1018、JJF1028、ISO／ASTM51538、ISO／ASTM51631给出了剂量计测量系统

的特性和选择应用指南。

7．3剂量计系统的校准

7．3．1剂量测量系统在使用前和使用后的周期内，应按照使用者文件程序中校准工作和质量保证要求

8

51649：2005

GB／T16841--2008／ISO／ASTM

的特别规定进行校准。GB／T16640规定了对校准的要求。

7．3．2校准辐照校准辐照是剂量测量系统校准的关键。校准辐照可采用的方法依赖于剂量计是

用作参考标准、传递标准还是工作剂量计。

7．3．2．1参考或传递标准剂量计——校准辐照应该在国家的或国家认可的校准实验室按照

GB／T16640的特别要求进行。

7．3．2

2工作剂量计剂量计的校准辐照应按以下三种照射剂量计的方法中的一种进行。

a)在国家或符合GB／T

16510标准特殊要求的认可校准实验室中进行。

国家标准或国际认可的标准。

c)在生产厂或研究用辐照装置中进行。该装置应和参考或传递标准剂量计一起溯源到国家标准

或国际认可的标准。

在采用a)或b)的方法时，应在实际使用的条件F对给出的校准曲线进行验证。

7．3．3校准和性能验证GB／‘I、16640给出r的校准和校准周期内进行验证的特别要求。

注4：某些剂量测量系统，在剂量率超过系统的规定范围时，剂量计对给定的相同吸收剂量可能有不同的剂量响

应。加速器系统的平均功率可以从1kW到数百kW的范围内进行调整，如：直流高压型和其他低负载循环

(占空比)脉冲种类的加速器。所以不同系统中的剂量率(平均和峰值)可能会有很大的差异。因此，生产装

置的剂量率很难与校准装置给出的剂量率匹配。为此，在使用生产j-‘的辐照装置(现场校准)进行枝准辐照

时必须考虑这衅差异(见GB／T16640)。

8加工参数

8．1各种加工参数影响着吸收剂量的控制与测量，在按第8章、第9章、第10章和第ll章的要求进行

吸收剂量测量时必须予以考虑。

8．2加工参数包括加工负荷特性(如尺寸、堆积密度和不均匀性)、辐照条件(如加工的几何条件、多面

辐照和通过电子束的次数)以及运行参数。

8．2．1运行参数包括电子束特性(如由加速器控制的能量、平均束流与脉冲速率)、材料的传输方式和

速度(见63)以及电子束的扩展参数(如扫过产品的扫描宽度和扫描频率)；运行参数是可以测量并应

该监测的；运行参数数值取决于装置的控制参数。在辐照装置的确认期间(见第9章和第10章)，在选

定的运行参数范围内的吸收剂量的特性是在参考材料中建立的。

8．2．2在性能确认时(见第11章)建立辐照工艺的加工参数是为了获得规定限值内的吸收剂量。

82．3日常产品加工期问(见第12章)对装置的运行参数控制与监测，是为了保持性能确认时建立的

所有参数值。

8．2．4不同种类的产品，要求不同的运行和加工参数。

9安装确认

9．1目的电子束装置安装确认的目的是建立基本数据，评价该装置是按照规范提供和安装的。

9．2设备文件——安装确认文件应终身存档备查。该文件包括如下内容：

9．2．1加速器的规格和特性的说明文件。

9．2．2材料传输设备的结构与运行状态的描述。

9．2．3加工控制系统和人员安全系统的描述。

9．2．4加速器、操作人员和辐照与未辐照产品隔离区域等位置的描述。

9．2．5辐照期问用于装载被照产品的辐照容器材料与结构的描述。

9．2．6加速器操作管理方法的描述。

9．2．7装置安装时与生产运行中所作的重要改进。为确保参考材料中的吸收剂量在规定的限值内可

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以重复，文件应保证吸收剂量能够复现。

9．3试验、操作和校准程序应建立和贯彻试验、操作和安装的加速器和与加工相关的设备及测量

仪器校准的标准操作程序。

9．3．1试验程序规定用于保证安装的加速器和与加工相关的设备及测量仪器按照法规操作的试

验方法。

9．3．2操作程序——规定了在日常运行期间加速器和与加工相关的设备及测量仪器的操作方法。

9．3．3校准程序规定了用于保证安装的加工相关的设备及测量仪器按照规范连续操作的校准检

定周期和方法。可以由权威部门规定某些设备及测量仪器的校准频度。要求某些设备及测量仪器的校

准应能够溯源到国家或其他认可的标准实验室。

9．4影响吸收剂量的因素——辐照加工单元(加工负荷)内的吸收剂量主要依赖于运行参数(如：电子

束特性、束扩展参数、产品传输系统及它们之问的相互关系)以及辐照单元特性和辐照条件。上述运行

参数可以通过不同的加速器及有关装置的参数加以控制。

9．4．1电子束特性

9．4．1．1影响剂量测量的两个主要的电子束特性是：电子束能量和平均束流。电子束能量影响产品中

的深度剂量分布(见附录A)；平均束流及其他的运行参数影响平均剂量率。

9．4．1．2电子束特性测量主要包括：

a)电子束能量；

b)平均束流；

c)峰值束流(对脉冲调制型加速器)；

d)平均束功率；

e)峰值功率(对脉冲调制型加速器)；

f)负载周期(占空比)(对脉冲调制型加速器)；

g)脉冲(或重复)速率；

h)脉冲宽度(对脉冲调制型加速器)；

i)束的横截面。

注5：通常用平均电子能量(E)和最可几能量(E)(见附录c)表征电子束能量。电子能谱分析磁铁可用于准确的

能谱分析。

9．4．2电子束扩展参数

9．4．2．1采用电磁扫描、散焦元件或散射箔等不同的技术，可以把线束扩展，以扩大辐照区域。

9．4．2．2电子束扩展的测量主要包括：

a)扫描宽度；

b)扫描长度；

c)在扫描宽度和扫描长度内的剂量变化；

d)辐照区域内电子束中心的确定。

注6：束宽等运行参数影响剂量率。扫描的线束沿着扫描宽度产生脉冲剂量。这会影响那些对剂量率敏感的剂量

计的使用(见附录B)。

9．4．3材料(产品)的传输

9．4．3．1动态连续辐照传输装置(如传输带、传输车、滚筒及各种线、缆、薄膜连续缠绕产品的传输设

备)把产品传送通过辐照区，当其他运行参数保持恒定时，传输速度决定辐照时间。从而当其他参数不

变时，传输速度决定产品的吸收剂量。

注7：某些加速器的传输速度与束流强度相匹配，若其中一个参数发生变化就会自动引起另一个参数相应改变使

吸收剂量保持恒定。

9．4．3．2对于静态辐照装置，当其他运行参数恒定时，辐照时间决定辐照区产品的吸收剂量。

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9．4．4测量装置——吸收剂量测量的准确度依赖于分析剂量计所用的正确操作和校准。

检查的性能，以确保其按照说明书所列的性能规范运行。在其进行维修后或在剂量测量系统校准

周期内应重复这种检查。检查时，可用校准过的光密度片、波长标准和测厚仪重复这种检查。

10运行确认

10．1目的电子束装置确认的目的是建立基本数据，评价该装置在其运行的条件范围内是否具有

对产品进行准确和可重现的辐照授予所需剂量的能力”][…。例如用剂量测量：1)确定该装置在给定的

几何条件下和参考材料中吸收剂量分布与装置运行参数的关系；2)确定装置正常运行时有关的条件和

参数统计涨落对吸收剂量的影响[4j。

10．2剂量测量系统辐照装置使用剂量测量系统应按照第7章的要求进行校准。

10．3绘制剂量分布曲线

10．3．1在装有均匀材料的加工负荷内，以三维立体的方式布放剂量计绘制吸收剂量分布曲线。在加

工负荷内均质材料的体积物质量应该是在典型的生产循环期间或是加工负荷设计的最大体积物质量。

10．3．2使用适宜的剂量测量方法，在参考辐照的几何条件下(见附录A和附录c)和参考材料中建立

深度剂量分布曲线。深度剂量分布的确切形状随装置不同而有差异，它取决于电子束能量与加工负荷

辐照的儿何条件”J。穿透深度取决于电子束能量。

10．4吸收剂量和运行参数

10．4．1目的产品中的剂量取决于多个运行参数，例如：产品传输方式和速度、电子束能量、束流、

扫描宽度。应使用适宜的剂量测量方法在参考材料中建立全部预定参数的吸收剂量特性。

10．4．1．1深度剂量分布取决于电子束能量和参考材料的特性。

10．4．1．2面向电子束的产品表面剂量主要取决于电子束特性、扫描特性(束扩展)和产品传输速度。

10．4．2深度剂量分布——应用适当的剂量测量方法，针对电子束能量的预定范围、参考材料的堆积密

度，以及单、双面辐照工艺，建立参考材料中的深度剂量分布。

10．4．3表面剂量建立表面剂量(或参考面剂量)与预定运行范围内的传输速度、电子束特性和电

子束扩展等参数之间的关系。

10．4．3．1确定授予参考材料表面的剂量不均匀度范围。设置传输速度、脉冲速率和扫描频率的运行

范围。

注8：电子柬辐照装置常使用连续运动的传输装置。参考面中吸收剂量的均匀性依赖于相关的传输速度、束长度、

束宽度以及扫描频率。对于脉冲调制型加速器，这些参数必须与脉冲宽度和重复速率相匹配；否则会在参考

面内引起不能接受的剂量变化。

注9：在相等的平均束流强度下与脉冲调制型加速器相比，直流高压型加速器在输出脉冲时会授予较高的剂量率。

同样，直径小的扫描电子束也会沿着束宽度产生剂量脉冲。如果剂量计对剂量率响应灵敏，这种脉冲剂量将

影响剂量计的