GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14032-1992 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
国家标准
中文简体
现行
页数:9页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 14032-1992
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
1992-12-18
实施日期
1993-08-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
适用范围
-
发布历史
-
1992年12月
研制信息
- 起草单位:
- 上海元件五厂
- 起草人:
- 王庆光、高信龄
- 出版信息:
- 页数:9页 | 字数:16 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 17562.1-1998 频率低于3MHz的矩形连接器 第1部分:总规范一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则 1998-11-17
- GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则 1998-11-17
- GB/T 17564.1-1998 电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式 第1部分:定义-原则和方法 1998-11-17
- GB/T 13629-1998 核电厂安全系统中数字计算机的适用准则 1998-11-17
- GB/T 17572-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范 1998-11-17
- GB/T 17570-1998 光纤熔接机通用规范 1998-11-17
- GB 17565-1998 防盗安全门通用技术条件 1998-11-17
- GB/T 17571-1998 碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组 1998-11-17
- GB 17568-1998 Υ辐照装置设计建造和使用规范 1998-11-17
- GB 17567-1998 核设施的钢铁和铝再循环再利用的清洁解控水平 1998-11-17