GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法

ICS31.200

CCSL55

中华人民共和国国家标准

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GBT430612023

半导体集成电路

PWM控制器测试方法

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SemiconductorinteratedcircuitsTestmethodsofPWMcontroller

g

2023-09-07发布2024-04-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

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GBT430612023

目次

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般测试要求……………5

4.1测试环境要求………………………5

4.2测试注意事项………………………5

4.3测试仪器和设备……………………6

5测试条件和测试程序……………………6

5.1基准源单元…………………………6

基准电压()…………………

5.1.1VREF6

电压调整变化量()…………

5.1.2SV7

电流调整变化量()…………

5.1.3SI8

基准电压温度系数()………………………

5.1.4ST9

输出电压总体变化范围()………………

5.1.5VTOT9

输出噪声电压()…………

5.1.6VNO10

输出短路电流()……………

5.1.7I11

OS

5.2振荡器单元…………………………12

5.2.1初始频率()…………………12

fI

5.2.2电压稳定性()………………13

fV

5.2.3温度稳定性()………………14

fT

5.2.4频率总体变化范围()……………………15

fTOT

5.2.5最低工作频率()…………16

fmin

5.2.6最高工作频率()…………17

fmax

输出脉冲高电平电压[()]………………

5.2.7VOHosc18

输出脉冲低电平电压[()]………………

5.2.8VOLosc19

输出脉冲电压幅度[()]…………………

5.2.9VOAosc19

输出脉冲宽度()…………

5.2.10t20

W

锯齿波峰值电压[()]…………………

5.2.11VPramp21

锯齿波谷值电压[()]…………………

5.2.12VVramp