GB/T 45325-2025 贵金属键合丝热影响区长度测定 扫描电镜法

GB/T 45325-2025 Determination of length of heat affected zone for precious metal bonding wire—Scanning electron microscope method

国家标准 中文简体 现行 页数:16页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 45325-2025
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2025-02-28
实施日期
2025-09-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
本文件描述了各类贵金属键合丝(以下简称“键合丝”)热影响区长度的扫描电镜测定方法。
本文件方法一适用于键合金丝热影响区长度的测定。
本文件方法二适用于直径不超过50 μm的纯金属、合金或复合类键合丝的热影响区长度测定。

发布历史

文前页预览

研制信息

起草单位:
贵研检测科技(云南)有限公司、北京达博有色金属焊料有限责任公司、贵研半导体材料(云南)有限公司、烟台一诺电子材料有限公司、国合通用(青岛)测试评价有限公司、郴州市产商品质量监督检验所、云南贵金属实验室有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、北京有色金属与稀土应用研究所有限公司、浙江佳博科技股份有限公司
起草人:
王一晴、毛端、赵万春、陈雯、陈国华、周文艳、向磊、朱武勋、闫茹、林良、齐岳峰、薛子夜、张晓辰、张卓佳、刘洁、毕勤嵩、袁晓虹、梁辰、金娅秋、赵义东
出版信息:
页数:16页 | 字数:19 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS7704099

CCSH.21.

中华人民共和国国家标准

GB/T45325—2025

贵金属键合丝热影响区长度测定

扫描电镜法

Determinationoflengthofheataffectedzoneforpreciousmetalbondingwire—

Scanningelectronmicroscopemethod

2025-02-28发布2025-09-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T45325—2025

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中国有色金属工业协会提出

本文件由全国有色金属标准化技术委员会归口

(SAC/TC243)。

本文件起草单位贵研检测科技云南有限公司北京达博有色金属焊料有限责任公司贵研半导

:()、、

体材料云南有限公司烟台一诺电子材料有限公司国合通用青岛测试评价有限公司郴州市产商

()、、()、

品质量监督检验所云南贵金属实验室有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司北京有色金

、、、

属与稀土应用研究所有限公司浙江佳博科技股份有限公司

、。

本文件主要起草人王一晴毛端赵万春陈雯陈国华周文艳向磊朱武勋闫茹林良齐岳峰

:、、、、、、、、、、、

薛子夜张晓辰张卓佳刘洁毕勤嵩袁晓虹梁辰金娅秋赵义东

、、、、、、、、。

GB/T45325—2025

贵金属键合丝热影响区长度测定

扫描电镜法

1范围

本文件描述了各类贵金属键合丝以下简称键合丝热影响区长度的扫描电镜测定方法

(“”)。

本文件方法一适用于键合金丝热影响区长度的测定

本文件方法二适用于直径不超过的纯金属合金或复合类键合丝的热影响区长度测定

50μm、。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

微束分析扫描电子显微术术语

GB/T23414—2009

贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法

GB/T38783—2020

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T23414—2009。

31

.

自由空气球freeairballFAB

;

引线键合烧球阶段高压电弧击穿空气并放出大量的热使键合丝末端熔化冷却时由于表面张力

,,,

作用使键合丝末端形成的一个金属圆球

32

.

热影响区heataffectedzoneHAZ

;

引线键合烧球过程中高温熔化键合丝末端形成自由空气球同时热量传导使键合丝近

,(FAB),

区域发生再结晶及晶粒长大现象的区域

FAB。

33

.

聚焦离子束focusedionbeamFIB

;

将离子源通过离子枪加速电磁透镜聚焦后形成的离子束流

、。

来源有修改

[:GB/T38783—2020,3.1,]

34

.

双束电子显微镜dualbeamelectronmicroscope

由聚焦离子束与扫描电子显微镜结合而成的双束电子束离子束系统

(/)。

来源有修改

[:GB/T38783—2020,3.2,]

35

.

气体注入系统gasinjectionsystemGIS

;

在双束电子显微镜中通过注入各类气体化合物来辅助完成沉积或增强刻蚀的系统

,。

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