GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
国家标准
中文简体
现行
页数：16页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
1992-12-18
实施日期
1993-08-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
适用范围
-
发布历史
-
1992年12月
研制信息
- 起草单位：
- 上海元件五厂
- 起草人：
- 崔忠勤、张家昌
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：30 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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