GB/T 18290.2-2000 无焊连接 第2部分：无焊压接连接 一般要求、试验方法和使用导则

GB/T18290.2-2000

健Le

前「习

本标准等同采用IEC60352-2:1990《无焊连接第2部分：无焊压接连接一般要求、试验方法和

使用导则））和IEC60352-2的修订本10996年）。

本标准由中华人民共和国信息产业部提出。

本标准由全国电子设备机电元件标准化技术委员会归口。

本标准由信息产业部电子工业标准化研究所负责起草。

本标准主要起草人：佘玉芳、汪其龙。

本标准为首次发布。

GB/T18290.2-2000

IEC前言

1)IEC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员

会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。

2)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义

上，为各国家委员会认可。

3)为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。

IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。

4)IEC未制定使用认可标志的任何程序，当宣称某一产品符合相应的IEC标准时，IEC概不负责。

GB/T18290.2-2000

IEC引言

本标准由IEC/TC48（电子设备用机电元件）制定的。

本标准与IEC60512《电子设备用机电元件基本试验规程和测量方法》一同使用。

本标准文本以下列文件为依据：

六│个月法则│表决报告│

4│8(C.0.)301│48(C.0.)304│

表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。

引用标准〕‘：

下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均

为有效。所有标准都会被修定，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。

GB/T4210-1984电子设备用机电元件名词术语e（qvIEC50-581:1978)

GB/T5095.1-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第1部分：总则

(idtIEC60512-1：1994)

GB/T5095.2-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分：一般检查、电

连续性和接触电阻测量、绝缘试验和电压应力试验(i（dtIEC60512-2:1994)

GB/T5095.5-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分：撞击试验（自

由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验

(idtIEC60512-5：1992)

GB/T5095.6-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分：气候试验和

锡焊试验(idtIEC60512-6：1984)

GB/T5095.8-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第8部分：连接器、接触

件及引出端的机械试验i（dtIEC60512-8:1993)

GB/T5095.9-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第9部分：杂项试验

(idtIEC60512-9：1992)

GB/T5095.11-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11部分：气候试验

(idtIEC60512-11：1995)

IEC60068-1:1988环境试验第1部分：总则和导则

IEC60130-7:1971频率低于3MHz的连接器第7部分：卡口和推拉连接的多接触件圆形连接器

IEC60189-3:1988PVC绝缘和PVC护套的低频电缆和导线第3部分：单芯、双芯和三芯的

PVC绝缘的实心或纹合导体的装置导线

IEC60203:1966车制的压接接触件压接区域的尺寸

IEC60673:198。实心或绞合导体的低频细装置线

修订3(1989)

ISO6507/1:1982金属材料硬度试验维氏硬度试验第1部分：HV5至HV100

采用说明：

1〕本部分标准已转化成我国相应的国家标准。

中华人民共和国国家标准

无焊连接第2部分：无焊压接连接GB/T18290．2一2000

idtIEC60352-2门996

一般要求、试验方法和使用导则

Solderlessconnections-

Part2：Solderlesscrimpedconnections-General

requirements，testmethodsandpracticalguidance

序言

本标准规定了无焊压接的一般要求、试验方法和使用导则。

本标准规定了两个试验一览表：

a)基本试验一览表：适用于符合第二篇中全部要求的无焊压接连接；

b）完全试验一览表：适用于不完全符合第二篇中全部要求的无焊压接连接，例如：与实心导线不同

的材料等的连接。

第一篇总则

范围

本标准适用于无焊压接连接，其连接导线的纹合导体横（截面积为0.05mm'至10mm2）或实心导

线直（径为0.25mm至3.6mm）以及适当设计的未绝缘压接筒或预绝缘压接筒的无焊压接连接。这种

连接用于通信设备和采用类似技术的电子设备中。

为了在规定的环境条件下获得稳定的电气连接，除了试验程序外，本标准还规定了从工业使用实际

出发的一些经验数据资料。

注：本标准不适用于同轴电缆压接。

2目的

确定无焊压接连接在规定的机械、电气和大气条件下的适用性。

当用来连接的工具的设计或加工不同时，提供一种试验结果可比的方法。

3术语

适用于本标准的术语和定义规定在GB/T4210中。GB/T5095中也规定了一些适用的术语和

定义。

对本标准而言，规定了下面附加的术语和定义。

3.1压接简crimpbarrel

设计适配一根或多根导线的导线筒，并采用压接工具进行压接连接。

3.2开式压接筒opencrimpbarrel

压接前为敞开式的压接筒，如U型或V型，如图1所示。

国家质f技术监督局2000一12-28批准2001一07一01实施

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3.3闭式压接筒closedcrimpbarrel

压接前为封闭式压接筒，如图2所示。

车制的压接筒焊制的压接筒冲制／卷制的压接筒

abc

图2

3.4预绝缘压接筒pre-insulatedcrimpbarrel

具有永久固紧的绝缘层的压接筒，并且通过该绝缘层进行压接，如图3所示。

图3

3.5压接区域crimpingzone

压接筒的一部分，在此处施加压力使包围导线的筒产生变形或改变形状达到压接连接，如图4所示。

压接筒带绝缘紧套时，用压接工具施加压力使之变形固紧导线绝缘层，如图4。所示。

压接区域绝缘紧套

闭式压接筒开式压接筒

b

图4

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绝缘紧套的压接区城

C

图4（完）

3.6压接模简（称压模）crimpingdie

压接工具形成压接的那部分，通常采用压接砧座、压头和定位件。

注：为了挤压绝缘紧套如（适用），压模可以有单独的或与压接筒的压模合为一体的。

4型号

不适用。

第二篇要求

加工质t

应按照通常切实可行的方法采用精细和熟练的方式加工连接产品。

6工具

应按照工具制造厂提供的说明书来使用和检验压接工具。

压接工具在整个使用寿命期间应能进行稳定可靠的压接连接。

压接工具应配有相适应的压模。压模可调节时，应具有适应于压接筒的正确调节的装置。

手动压接工具应具有全周期压接机构。

自动压接工具应具有全周期压接机构或等效的安全装置。这些机构应能正确的设置，并且应能保持

所进行的设置。

工具应根据对压接连接的试验结果来进行评定。

了压接筒

7.1材料

压接筒应由铜或铜合金铜（含量至少为600o）制成。

按ISO650711进行试验时，维氏硬度应不超过220HV50

7.2尺寸

尺寸应适合于本标准第8章中规定的合适绞合导线。

注：压接筒的尺寸和导线导体的横截面积之间的关系，见15.4.

了．3表面涂覆层

压接筒可不电镀或电镀锡、锡一铅、银、金或把。

表面应无污染或腐蚀。

7.4结构特性

压接筒的结构应能在对剥去绝缘层的导体的部位加压力产生变形或改变形状时达到压接连接。

注：本标准没有规定压接筒刺穿导线绝缘层达到连接的技术。

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应采用下列压接筒的型别：

—未绝缘的开式压接筒；

—未绝缘或预绝缘的闭式压接筒。

压接筒应无损伤导体之类的锐边。

8导线

应采用绞合导线。

8.1材料

应采用退火铜，其断裂伸长率不小于10写。

8.2尺寸

纹合导体的横截面积应在0.05mm'至10mm'.

注：压接筒的尺寸与导线导体的横截面积之间的关系，见15.4,

8.3表面涂覆层

采用未电镀导体或镀锡、锡铅或者银的导体。

表面应无污染或腐蚀。

8.4绝缘层

绝缘层应能很容易从导线的导体上剥离，而不会改变导线或绞合导线的物理特性。

9压接连接

a)工具、压接筒和导线的组合应相适应；

b)压接筒配备有绝缘支撑套或绝缘紧套时，绝缘导线外径应能与绝缘支撑套或绝缘紧套的尺寸

匹配；

c）导线的剥离长度应正确，·剥离的绞合线应无损伤，例如个别断裂或完全断裂；

导线剥离部分应清洁，并且应无绝缘微粒；多股线的捻扭应正确。如果导线的捻扭已扰乱，可以轻微

捻扭一下使其恢复；

d)导线在压接筒的位置应正确，即有正确的深度。这可按下述方法检查：

1)具有检查结构的开式压接筒或闭式压接筒中，应采用目视检查；

2)在无检查结构如（检查孔）的闭式压接筒中，应进行测量以确定深度是否正确（间接测量压接

筒的允许插人深度；导线剥离长度以及压接筒端部与导线绝缘层起始点之间的距离）。

绞合线的所有股线应在压接筒内，并且应无损伤；

e)压接筒具有绝缘支撑套或绝缘紧套时，绝缘层应正确位于支撑套或紧套内。

第三篇试验

10试验

10.1概述

按引言中说明，适用于下列条件的有两个试验一览表：

—符合第二篇中所有要求的压接连接应按12.2的基本试验一览表进行试验并满足其要求；

—不完全符合第二篇中所有要求例（如，压接所用的不同实心导线，不同材料等）应按12.3的完

全试验一览表进行试验并满足其要求。

10.2试验的标准条件

除非另有规定，所有试验应在GB/T5095.1中规定的试验的标准条件下进行。

在试验报告中应注明测试时的环境温度和相对湿度。

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对试验结果有争议时，应采用IEC60068-1的仲裁条件之一进行重复试验。

10.3预处理

在规定时，按照GB/T5095.1规定，连接产品应在试验的标准条件下预处理，历时24h.

10.4试验样品安装

在试验中要求安装时，除非另有规定，试验样品应采用正常安装方法进行安装。

月月

．．

．．型式试验

月J

．l

．．，一般检查

应按GB/T5095.1中试验la和试验1b进行。外观检查可用约为5倍放大镜进行检查。

所有压接连接应进行外观检查，以确定是否符合7至9的有关要求。

11.2机械试验

注：一根以上导线的压接，见17.2.

11.2.1抗张强度

应按GB/T5095.8中试验16d进行试验。

压接筒端（子）制造厂另有规定外，抗张强度的最低值应符合图5所示。

图5中的导体横截面是由纹合线每股的名义直径和股数进行计算的。

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0.050.10.0.51.01.52.54.06.010.0

导体横截面，mm

曲线A：闭式压接筒的最低值；

曲线B：开式压接筒或预绝缘压接筒的最低值。

图5压接连接抗张强度

11.2.2绝缘紧套有效性

应按GB/T5095.8中试验16h进行试验。

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缠绕周期数：20

施加的张力：使导线进人接触件处贴于心轴上的最低张力。

11.3电气试验

注：一根以上的导线压接，见17.2.

11.3.1接触电阻

应按GB/T5095.2中试验2a或2b进行试验按（相关规范规定）。

合适的试验装置线路如图6所示。

连接点

有绝缘紧套的

闭式压接筒

闭式压接筒

有绝缘紧套的

开式压接筒

R。一RBD-揣XR,oo

式中：R。二压接连接的接触电阻，n；

RBD＝连接点B和D之间测得的电阻，S2;

R100=100mm导线D（-E)测得的电阻'a;

x＝压接筒尾端和连接点D之间的距离，mm,

注：距离x，推荐为25mm至100mm,

图6

接触点B尽可能靠近压接筒中导线的端头，但是，在开式压接筒中不要触到导线端头。

为了达到试验结果的可信性和重现性，在连接点处对所有绞合线需要有良好的接触。

离压接连接的安全距离的D点，可以采用任何方法确保对绞合线的所有股数有良好的接触。

应采用合适的试验装置保证对所有连接点有良好的接触。试验装置应保证所有连接点应固定在预

先端接的固定距离不变。在采用试验探针时，为了避免损伤绞合线，探针头应为圆头。

在采用试验2b时，试验电流应为1安培每平方毫米导线横截面积（即1A/mm'),为了防止试验样

品发热，施加试验电流的时间应尽可能短。

GB/T18290.2-2000

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导体横截面，mm

曲线A：初始接触电阻最大值。

曲线B：电气或气候试验后，阻值的最大变化值。

注：铜质压接筒的压接连接的接触电阻R。和铜导体K（=1),

图7

图7中的横截面是由绞合线每股的名义直径和股数进行计算的。

图7中初始接触电阻最大值（曲线A）和电阻最大变化值（曲线B）仅适用于符合第7章中的压接筒

进行压接的连接，而导体符合第8章中的规定，式中K=1o

压接筒的材料非铜质时，曲线A和曲线B的值乘以K，其K值为：

材料电阻率

铜的电阻率

表中列举了其他材料的K值：

材│料电阻率││K│

nmm'/m││

退│火铜，100.0Cu│0.0172│1│

铜│锌合金黄（铜）0│.030^-0.061│1.74-3.55│

7│0.0Cu,30.0Zn│0.061│3.55│

铜│锡合金青（铜）0│.083-0.15│4.83-8.72│

9│4.0Cu,6.0Sn│0.11│6.40│

铜│镍锌合金锌（白铜）│0,19-0.31│11.05^-18.02│

6│1.0Cu,18.0Ni,21.0Zn│0.30│17.44│

特│种铜合金：│0.078│4.53│

铜│铁合金│0.045│2.62│

(│98.1Cu,l.9Be)│││

硅│铜(97.5Cu,l.9Ni,0.6Si)│││

GB/T18290.2-2000

条件试验后接触电阻所允许的最大值等于测得的最初值加上图7曲线B给出并用K修正的最大

允许变化值如（适用）。

注：详细的资料可见IEC60189-3和IEC60673及修改1和2.

11.3.2耐电压预（绝缘压接筒的压接连接）

应按GB/T5095.2中试验4c进行试验。

耐电压值1500Vr.m.s.,45^60Hz.

11.4气候试验

除非另有规定，在下列试验中应采用上限类别温度U（CT）和下限类别温度L（CT)

UCT：125'C

LCT：一550C

11.4.1温度快速变化

应按GB/T5095.6中试验11d进行试验。应采用下列细则：

低温:TALCT

高温:TBUCT

暴露时间：t,30min

循环次数：5

该试验不检查导线绝缘特性或预绝缘压接筒的绝缘特性。

11．4.2高温

应按GB/T5095.6中试验11i进行试验。应采用下列细则：

试验温度：UCT

试验时间：96h

本试验不检查导线绝缘特性。

11-4.3气候序列

应按GB/T5095.11中试验11a进行试验。应采用下列细则：

高温

试验温度：UCT

循环湿热

上限试验温度：55,C

循环次数：6

降低温度方式：1或2

低温

试验温度：LCT

本试验不检查导线的绝缘特性或预绝缘压接筒的绝缘特性。

11.4.4循环电流负载

应按GB/T5095.5中试验9e进行试验。

应采用D型试验样品进行试验见（12.1.4).

除详细规范另有规定，试验样品应串联，以便同时对所有试验样品加上电流负载。如果采用串联并

且结构允许，可以用两个端头连接的试验样品。在这种情况下，两试验样品之间的导线长度约为

200mm。为了避免散热，试验样品的环线在导线处应固定并且用热导率低的绝缘材料作为固定装置。端

头重量大到需要另外支撑时，也可采用热导率低的绝缘材料支撑装置。

注：压接连接试验样品构成零件整体的一部分时，要注意零件对试验结果的影响例（如散热作用）。

在图8和IEC60760中给出下列示例：

GB/T18290.2-2000

固定装置

约为200mm

a有接头的压接筒

b有插合端的接触件的压接筒

200mm

厂’、｝／一、，一、

压接连接

多接触件元件

阴接触件

阳接触件

压接连接

PC板

、

、

1

无压接接触件有压接接触件部分

如（板装连接器）部分

c多接触件零件的压接连接

图8

图9中给出了施加的试验电流。

图9中的横截面是由绞合线每股的标称直径和股数进行计算的。图9中的试验电流仅适用于符合

第7章中的压接筒，符合第8章中规定的导体。

试验严酷度:20或500次循环。

注：有关导线的详细资料见IEC60189-3和IEC60673及修改1和2,

11-4.5低温压接预（绝缘压接筒的压接连接）

为准备低温试验所要求的压接连接试验样品数量的全部零件：压接筒和导线与（12.1.5中E型试

验样品相关）以及压接工具等应在低温(-15士2)℃中历时2ho

所有零件保持在该温度下制成所要求的试验样品数量。

然后，试验样品在该温度下保持1ho

试验后，允许试验样品在试验的标准条件下恢复1h至2h,

注：上述试验方法，只要IEC60512中已包括此方法，应可用IEC60512中的方法替代。

11.5其他试验

11.5.，预绝缘压接筒耐液体

如果要求本试验，应按GB/T5095.9中试验19a进行试验。

仅用清洁液体进行试验，液体和温度应由详细规范规定。

耐电压：1500Vr.m.s.；45^-60Hz,

Gs1T18290.2-2000

＿」洲│尸蔺．，曰│曰．．．│

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阅

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050.080.130.20.280.50.751.01.52.54.06.010.0

导体横截面，MM2

图9压接连接的试验电流

司1自

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试验一览表

月门

．．了‘概述

试验前，要准备好试验样品的型别和数量。

当压接连接的压接筒适配的导体横截面积有一定范围时，应进行有关试验一览表的全部试验项目。

—规定数量的试验样品接上最小横截面的导线；

—规定数量的试验样品接上最大横截面的导线。

试验样品准备前应检查：

—采用的压接筒和导线是否正确；

—采用的压接工具是否正确；

—工具的工作是否正常；

—操作人员能否按第9章中的要求进行正确压接连接。

除12.1.4中的说明外，全部试验样品的导线最小长度应为150mm.

.1A型试验样品按（12.2.2.1和12.3.2.1试验）

A型试验样品由未绝缘或预绝缘压接筒