GB/T 17574.9-2006 半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器 空白详细规范
GB/T 17574.9-2006 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-9:Digital integrated circuits—Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
国家标准
中文简体
现行
页数:15页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 17574.9-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-12-05
实施日期
2007-05-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2006年12月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子科技集团公司第四十七研究所
- 起草人:
- 施华莎
- 出版信息:
- 页数:15页 | 字数:26 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 15489.7-1995 滤光玻璃测试方法 化学稳定性 1995-01-13
- GB/T 15489.6-1995 滤光玻璃测试方法 荧光特性 1995-01-13
- GB/T 15462-1995 电子设备用机电开关 第3-1部分:成列直插封装式开关 空白详细规范 1995-01-16
- GB/T 15461-1995 电子设备用机电开关 第3部分:成列直插封装式开关分规范 1995-01-16
- GB/T 3047.1-1995 高度进制为20mm的面板、架和柜的基本尺寸系列 1995-01-16
- GB/T 15489.8-1995 滤光玻璃测试方法 耐紫外辐射稳定性 1995-01-13
- GB/T 15489.5-1995 滤光玻璃测试方法 色品 1995-01-13
- MT 376-1995 爆破母线技术条件 1995-01-16
- GB/T 15489.4-1995 滤光玻璃测试方法 色温变换能力 1995-01-13
- GB/T 6113.1-1995 无线电骚扰和抗扰度测量设备规范 1995-01-16