GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态 读/写存储器空白详细规范
GB/T 17574.10-2003 Semiconductor devices-Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories
国家标准
中文简体
现行
页数:20页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 17574.10-2003
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
中国电子技术标准化研究所(CESI)
适用范围
-
发布历史
-
2003年11月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子技术标准化研究所(CESI)
- 起草人:
- 王琪、李燕荣
- 出版信息:
- 页数:20页 | 字数:29 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB14/T 1421.1-2017 信用信息共享平台 第1部分:总体框架 2017-06-01
- DB34/T 2651-2016 霍寿黑猪种猪饲养技术规程 2016-06-15
- DB34/T 2732-2016 山岳景区监控设备维护通用要求 2016-12-30
- DB34/T 2650-2016 霍寿黑猪 2016-06-15
- DB34/T 2643-2016 糖槭育苗技术规程 2016-06-15
- DB34/T 2647-2016 煤矿在用防爆柴油机单轨吊机车安全检测检测规范 2016-06-15
- DB34/T 2649-2016 煤矿在用防爆蓄电池电机车安全检测检验规范 2016-06-15
- DB34/T 2719-2016 棉花杂交制种亲本限代繁殖技术规程 2016-09-27
- DB34/T 2728-2016 乌桕规模化快繁生产技术规程 2016-12-30
- DB34/T 2727-2016 厂拌沥青混凝土热风式再生工艺规程 2016-09-27