GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态 读/写存储器空白详细规范
GB/T 17574.10-2003 Semiconductor devices-Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories
国家标准
中文简体
现行
页数:20页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 17574.10-2003
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
中国电子技术标准化研究所(CESI)
适用范围
-
发布历史
-
2003年11月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子技术标准化研究所(CESI)
- 起草人:
- 王琪、李燕荣
- 出版信息:
- 页数:20页 | 字数:29 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB23/T 3588-2023 实验室危险废物污染防治技术指南 2023-08-28
- DB23/T 3579-2023 水稻覆膜节水减排种植技术规程 2023-08-28
- DB23/T 3587-2023 毛榛果园营建技术规程 2023-08-28
- DB23/T 3583-2023 秸秆颗粒化倍量还田培肥技术规程 2023-08-28
- DB23/T 3585-2023 养老机构护理记录通用要求 2023-08-28
- DB23/T 3582-2023 奶牛生产性能(DHI)数据自动解读技术规程 2023-08-28
- DB23/T 3584-2023 特困人员集中供养服务规范 2023-08-28
- DB23/T 3580-2023 青贮大麦复种大豆生产技术规程 2023-08-28
- DB23/T 3581-2023 寒地水稻抗倒伏生产技术规程 2023-08-28
- DB23/T 3586-2023 电商快件绿色包装通用要求 2023-08-28