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GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法

GB/T 4937-1995 Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

国家标准 中文简体 被代替 已被新标准代替，建议下载标准 GB/T 4937.1-2006 | 页数：34页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937-1995
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
L40/49 半导体分立器件
国际标准分类号（ICS）
31.080 半导体分立器件
发布日期
1995-12-22
实施日期
1996-08-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
-

发布历史

文前页预览

GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第1页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第2页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第3页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第4页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第5页

研制信息

起草单位：
-
起草人：
倪月琴、王长福
出版信息：
页数：34页 | 字数：65 千字 | 开本： 大16开

内容描述

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    即将实施
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    GB/T 2423.56-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动(数字控制)和导则
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    GB/T 2424.6-2021 环境试验 第3部分：支持文件及导则温度/湿度试验箱性能确认
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    GB/T 2424.10-1993 电工电子产品基本环境试验规程 大气腐蚀加速试验的通用导则
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    GB/T 2424.14-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 太阳辐射试验导则
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    GB/T 2424.25-2000 电工电子产品环境试验 第3部分：试验导则 地震试验方法
    被代替
    GB/T 2424.13-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 温度变化试验导则
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    GB/T 2424.1-2005 电工电子产品基本环境试验 高温低温试验导则
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    GB/T 2424.15-2008 电工电子产品环境试验 温度/低气压综合试验导则
    废止
    GB 5169.5-82
    GB 5169.5-82
    IEC 747
    IEC 747
    IEC 748
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    替代以下标准
    GB 4937-1985
    GB 4937-1985
    被以下标准替代
    GB/T 4937.2-2006
    GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压
    现行
    GB/T 4937.1-2006
    GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则
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    IEC 749:1995
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