GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法

GB/T 4937-1995 Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

国家标准中文简体 被代替 已被新标准代替，建议下载标准 GB/T 4937.1-2006 | 页数：34页 | 格式：PDF

基本信息

标准号

GB/T 4937-1995

标准类型

国家标准

标准状态

被代替

中国标准分类号（CCS）

L40/49 半导体分立器件

国际标准分类号（ICS）

31.080 半导体分立器件

发布日期

1995-12-22

实施日期

1996-08-01

发布单位/组织

国家技术监督局

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会

适用范围

发布历史

1995年12月

GB/T 4937-1995　半导体器件机械和气候试验方法

当前标准被代替 1995-12-22

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研制信息

起草单位：: -

起草人：: 倪月琴、王长福

出版信息：: 页数：34页 | 字数：65 千字 | 开本：大16开

内容描述

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