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GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法

GB/T 4937-1995 Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

国家标准 中文简体 被代替 已被新标准代替，建议下载标准 GB/T 4937.1-2006 | 页数：34页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937-1995
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
L40/49 半导体分立器件
国际标准分类号（ICS）
31.080 半导体分立器件
发布日期
1995-12-22
实施日期
1996-08-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
-

发布历史

文前页预览

GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第1页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第2页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第3页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第4页
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法-第5页

研制信息

起草单位：
-
起草人：
倪月琴、王长福
出版信息：
页数：34页 | 字数：65 千字 | 开本： 大16开

内容描述

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    现行
    GB/T 2423.40-2013 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
    现行
    GB/T 2423.39-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ee和导则：散装货物试验包含弹跳
    现行
    GB/T 2423.47-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fg：声振
    现行
    GB/T 2423.48-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ff:振动 时间历程和正弦拍频法
    现行
    GB/T 2423.61-2018 环境试验 第2部分：试验方法试验和导则：大型试件砂尘试验
    现行
    GB/T 2423.62-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fx和导则：多输入多输出振动
    现行
    GB/T 2423.63-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)综合
    现行
    GB/T 2423.35-2019 环境试验 第2部分：试验和导则 气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验
    现行
    GB/T 2423.27-2020 环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验
    现行
    GB/T 2423.51-2020 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ke：流动混合气体腐蚀试验
    现行
    GB/T 2423.33-2021 环境试验 第2部分：试验方法 试验Kca：高浓度二氧化硫试验
    现行
    GB/T 2423.38-2021 环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则
    现行
    GB/T 2423.54-2022 环境试验 第2部分：试验方法 试验Xc：流体污染
    现行
    GB/T 2423.55-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Eh：锤击试验
    现行
    GB/T 2423.56-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
    现行
    GB/T 2423.64-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fj：振动 长时间历程再现
    现行
    GB/T 2423.34-2024 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验
    现行
    GB/T 2423.65-2024 环境试验 第2部分：试验方法 试验：盐雾/温度/湿度/太阳辐射综合
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    GB/T 2423.101-2025 环境试验 第2部分：试验方法 试验：倾斜和摇摆
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    被代替
    GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABDM：气候顺序
    被代替
    GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fg：声振
    被代替
    GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ff：振动——时间历程法
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    GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fe：振动——正弦拍频法
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    GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
    被代替
    GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验XA和导则：在清洗剂中浸渍
    被代替
    GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验
    被代替
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    被代替
    GB/T 2423.54-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Xc：流体污染
    被代替
    GB/T 2423.33-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Kca：高浓度二氧化硫试验
    被代替
    GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验
    被代替
    GB/T 2423.34-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验
    被代替
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    GB/T 2424.10-2012 环境试验 大气腐蚀加速试验的通用导则
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    现行
    GB/T 2424.5-2021 环境试验 第3部分：支持文件及导则 温度试验箱性能确认
    现行
    GB/T 2424.6-2021 环境试验 第3部分：支持文件及导则温度/湿度试验箱性能确认
    现行
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    GB/T 2424.10-1993 电工电子产品基本环境试验规程 大气腐蚀加速试验的通用导则
    被代替
    GB/T 2424.2-1993 电工电子产品基本环境试验规程 湿热试验导则
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    GB/T 2424.5-2006 电工电子产品环境试验 温度试验箱性能确认
    被代替
    GB/T 2424.6-2006 电工电子产品环境试验 温度/湿度试验箱性能确认
    被代替
    GB/T 2424.7-2006 电工电子产品环境试验 试验A和B(带负载)用温度试验箱的测量
    被代替
    GB/T 2424.19-2005 电工电子产品环境试验 模拟贮存影响的环境试验导则
    废止
    GB/T 2424.15-2008 电工电子产品环境试验 温度/低气压综合试验导则
    废止
    GB 5169.5-82
    GB 5169.5-82
    IEC 747
    IEC 747
    IEC 748
    IEC 748
    替代以下标准
    GB 4937-1985
    GB 4937-1985
    被以下标准替代
    GB/T 4937.2-2006
    GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压
    现行
    GB/T 4937.1-2006
    GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则
    现行
    采用标准
    IEC 749:1995
    IEC 749:1995

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