GB/T 4937.30-2018 半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

GB/T 4937.30-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30:Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

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基本信息

标准号

GB/T 4937.30-2018

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L40/49 半导体分立器件

国际标准分类号（ICS）

31.080.01 半导体器分立件综合

发布日期

2018-09-17

实施日期

2019-01-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

适用范围

发布历史

2018年09月

GB/T 4937.30-2018　半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

当前标准现行 2018-09-17

文前页预览

GB/T 4937.30-2018 半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理-第1页

GB/T 4937.30-2018 半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理-第2页

GB/T 4937.30-2018 半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理-第3页

GB/T 4937.30-2018 半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理-第4页

研制信息

起草单位：: 中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院

起草人：: 裴选、彭浩、高瑞鑫、高金环、刘玮

出版信息：: 页数：9页 | 字数：16 千字 | 开本：大16开

内容描述

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引用标准

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