GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)

GB/T 4937.4-2012 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST)

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基本信息

标准号
GB/T 4937.4-2012
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
李丽霞、陈海蓉、崔波
出版信息:
页数:7页 | 字数:11 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31.080.01

L40

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT4937.42012IEC60749-42002

半导体器件

机械和气候试验方法

:()

第部分强加速稳态湿热试验

4HAST

Semiconductordevices

Mechanicalandclimatictestmethods

:,,()

Part4DamheatsteadstatehihlacceleratedstresstestHAST

pygy

(:,)

IEC60749-42002IDT

2012-11-05发布2013-02-15实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国

国家标准

半导体器件

机械和气候试验方法

:()

第部分强加速稳态湿热试验

4HAST

/—/:

GBT4937.42012IEC60749-42002

*

中国标准出版社出版发行

北京市朝阳区和平里西街甲号()

2100013

北京市西城区三里河北街号()

16100045

网址:

g

服务热线:

010-68522006

年月第一版

20132

*

书号:·

1550661-46248

版权专有侵权必究

/—/:

GBT4937.42012IEC60749-42002

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