GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)
GB/T 4937.4-2012 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST)
国家标准
中文简体
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验（HAST）方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
发布历史
-
2012年11月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 李丽霞、陈海蓉、崔波
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：11 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS31.080.01
L40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.42012IEC60749-42002
半导体器件
机械和气候试验方法
:()
第部分强加速稳态湿热试验
4HAST
—
Semiconductordevices
—
Mechanicalandclimatictestmethods
:,,()
Part4DamheatsteadstatehihlacceleratedstresstestHAST
pygy
(:,)
IEC60749-42002IDT
2012-11-05发布2013-02-15实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国
国家标准
半导体器件
机械和气候试验方法
:()
第部分强加速稳态湿热试验
4HAST
/—/:
GBT4937.42012IEC60749-42002
*
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲号()
2100013
北京市西城区三里河北街号()
16100045
网址:
g
服务热线:
010-68522006
年月第一版
20132
*
书号:·
1550661-46248
版权专有侵权必究
/—/:
GBT4937.42012IEC60749-42002
前言
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