GB/T 4937.40-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法

ICS3108001

CCSL.40.

中华人民共和国国家标准

GB/T493740—2025/IEC60749-402011

.:

半导体器件机械和气候试验方法

第40部分采用应变仪的板级跌落试验方法

:

Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—

Part40Boardleveldrotestmethodusinastrainaue

:pggg

IEC60749-402011IDT

(:,)

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T493740—2025/IEC60749-402011

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅴ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

试验设备

4…………………2

试验程序

5…………………2

试验样品

5.1……………2

试验板

5.2………………2

焊膏

5.3…………………2

安装方式

5.4……………2

预处理

5.5………………2

初始测试

5.6……………2

中间测试

5.7……………3

最终测试

5.8……………3

试验方法

6…………………3

目的

6.1…………………3

跌落试验设备示例

6.2…………………3

试验板固定夹具示例

6.3………………4

支撑点距离示例

6.4……………………4

冲击面示例

6.5…………………………5

应变仪

6.6………………5

应变仪安装

6.7…………………………5

应变测试装置

6.8………………………5

试验条件

6.9……………6

说明

7………………………9

附录规范性采用试验棒的跌落冲击试验方法

A()……………………11

设备

A.1………………11

试验板固定夹具

A.2…………………11

试验条件

A.3…………………………11

附录资料性应变仪安装程序示例

B()…………………13

目的

B.1…………………13

装置和材料

B.2…………………………13

Ⅰ

GB/T493740—2025/IEC60749-402011

.:

应变仪引导标识

B.3……………………14

应变仪安装程序

B.4……………………14

Ⅱ

GB/T493740—2025/IEC60749-402011

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是半导体器件机械和气候试验方法的第部分已经发布了

GB/T4937《》40。GB/T4937

以下部分

:

第部分总则

———1:;

第部分低气压

———2:;

第部分外部目检

———3:;

第部分强加速稳态湿热试验

———4:(HAST);

第部分密封

———8:;

第部分机械冲击器件和组件

———10:;

第部分快速温度变化双液槽法

———11:;

第部分扫频振动

———12:;

第部分盐雾

———13:;

第部分引出端强度引线牢固性

———14:();

第部分通孔安装器件的耐焊接热

———15:;

第部分粒子碰撞噪声检测

———16:(PIND);

第部分中子辐照

———17:;

第部分电离辐射总剂量

———18:();

第部分芯片剪切强度

———19:;

第部分塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响

———20:;

第部分对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作包装标志和运输

———20-1:、、;

第部分可焊性

———21:;

第部