GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)
GB/T 4937.27-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27:Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Machine model (MM)
基本信息
发布历史
-
2023年05月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽高芯众科半导体有限公司、武汉格物芯科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司
- 起草人:
- 迟雷、高金环、高蕾、辛长林、彭浩、张瑞霞、黄杰、何黎、赵鹏、魏兵、刘洪刚、颜天宝、王介
- 出版信息:
- 页数:13页 | 字数:20 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.272023IEC60749-272012
半导体器件机械和气候试验方法
:()
第部分静电放电敏感度测试
27ESD
机器模型()
MM
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:()—
Part27ElectrostaticdischareESDsensitivittestin
gyg
()
MachinemodelMM
(:,)
IEC60749-272012IDT
2023-05-23发布2023-12-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—/:
GBT4937.272023IEC60749-272012
前言
/—《:》
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GBT1.120201
起草。
/《》。/
本文件是半导体器件机械和气候试验方法的第部分已经发布了
GBT493727GBT4937
以下部分:
———:;
第部分总则
1
———:;
第部分低气压
2
———:;
第部分外部目检
3
———:();
第部分强加速稳态湿热试验
4HAST
———:;
第部分快速温度变化双液槽法
11
———:;
第部分扫频振动
12
———:;
第部分盐雾
13
———:();
第部分引出端强度引线牢固性
14
———:;
第部分通孔安装器件的耐焊接热
15
———:;
第部分中子辐照
17
———:();
第部分电离辐射总剂量
18
———:;
第部分芯片剪切强度
19
———:;
第部分塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
20
———:、、;
第20-1部分对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作包装标志和运输
———:;
第部分可焊性
21
———:;
第部分键合强度
22
———:;
第部分高温工作寿命
23
———:()();
第部分静电放电敏感度测试人体模型
26ESDHBM
———:()();
第部分静电放电敏感度测试机器模型
27ESDMM
———:;
第部分非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
30
———:();
第部分塑封器件的易燃性内部引起的
31
———:();
第部分塑封器件的易燃性外部引起的
32
———:。
第部分温湿度贮存
42
:《:
本文件等同采用半导体器件机械和气候试验方法第部分静电放电
IEC60749-27201227
()敏感度测试机器模型()》。
ESDMM
本文件做了下列最小限度的编辑性改动:
)/();
将图中的电气图形符号改为符合所有部分规定的电气图形符号
a4.2.41GBT4728
)“”“”。
第章表中的等级电压后面增加了电压符号
b51U
。。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
(/)。
本文件由全国半导体器件标准化技术委员会SACTC78归口
Ⅰ
/—/:
GBT4937.272023IEC60749-272012
:、
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