GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压
GB/T 4937.2-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 2:Low air pressure
国家标准
中文简体
现行
页数：6页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 4937.2-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-08-23
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。
本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。
发布历史
-
2006年08月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 崔波、陈海蓉
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CAB 0173-2022 空气炸锅的品质要求与分级 2022-09-22
- T/CAS 295-2018 全屋净水系统的设计、设备安装 及维修服务规范 2018-01-25
- T/CSTE 0013-2022 “领跑者”标准评价要求 饮水机 2022-04-02
- T/DCGZMX 003-2022 苗绣平绣团体标准 2022-08-21
- T/JSVA 002-2022 公共体育场所新冠肺炎疫情防控技术指南 2022-09-21
- T/CIET 258-2023 质量分级及“领跑者”评价要求 家用强脉冲光治疗仪 2023-10-25
- T/ZZB 1614-2020 体育场馆公共座椅 2020-06-19
- T/GZGM 1-2023 广式硬木家具髹漆工艺规范 2023-10-18
- T/BYCA 008-2022 崖柏熏制食品 2022-05-22
- T/DZJN 130-2022 电动升降桌 2022-12-27