GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压
GB/T 4937.2-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 2:Low air pressure
国家标准
中文简体
现行
页数：6页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 4937.2-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-08-23
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。
本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。
发布历史
-
2006年08月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 崔波、陈海蓉
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 19846-2026 机械振动 列车通过时引起铁路隧道内振动的测量 2026-07-30
- GB/T 36665-2026 船舶与海上技术 船舶系泊和拖带设备 十字带缆桩 2026-07-30
- GB/Z 181.1-2026 液压传动 元件的再制造 第1部分：通用技术规范 2026-07-30
- GB/T 19873.5-2026 机器状态监测与诊断 振动状态监测 第5部分：风机和鼓风机的诊断技术 2026-07-30
- GB/T 22562-2026 电梯T型导轨 2026-07-30
- GB/T 14180-2026 缠绕式垫片试验方法 2026-07-30
- GB/Z 197-2026 铁矿石 多元素含量的测定 X射线荧光光谱分析熔融测量方法 2026-07-30
- GB/T 47997-2026 柔性多孔聚合物材料 抗菌效果的测定 2026-07-30
- GB/T 21021.6-2026 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第6部分：天线的无源互调测量 2026-07-30
- GB/T 23642-2026 电气绝缘材料和系统 瞬时上升和重复电压冲击条件下的局部放电(PD)电气测量 2026-07-30