GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压
GB/T 4937.2-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 2:Low air pressure
国家标准
中文简体
现行
页数：6页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 4937.2-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-08-23
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。
本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。
发布历史
-
2006年08月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 崔波、陈海蓉
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 5087-1985 有色金属工业固体废物腐蚀性试验方法标准 1985-04-25
- GB/T 5132-1985 电气绝缘层压管试验方法 1985-04-29
- GB/T 5106-1985 圆柱直齿渐开线花键量规 1985-04-27
- GB/T 5140-1985 叉车 挂钩型货叉 术语 1985-05-03
- GB/T 5134-1985 电气绝缘层压棒试验方法 1985-04-29
- GB/T 5124.3-1985 硬质合金化学分析方法 电位滴定法测定钴量 1985-04-24
- GB/T 5124.4-1985 硬质合金化学分析方法 过氧化物光度法测定钛量 1985-04-24
- GB/T 1305-1985 电气绝缘热固性层压材料检验、标志、包装、运输和贮存通用规则 1985-04-29
- GB/T 5133-1985 层压棒 1985-04-29
- GB/T 5125-1985 有色金属冲杯试验方法 1985-04-24