GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则
GB/T 4937.1-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 1:General
国家标准
中文简体
现行
页数：6页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 4937.1-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-08-23
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。
当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。
发布历史
-
2006年08月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 陈海蓉、崔波
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/BFIA 016-2022 商业银行应用程序接口共享平台技术要求 1970-01-01
- T/SHDSGY 325-2022 墨水屏智慧学习终端软件功能要求 2022-12-27
- T/SHDSGY 259-2022 在线教育领域课程体系开发规范 2022-12-29
- T/QGCML 1791-2023 3D全息投影画面自动矫正系统 2023-10-24
- T/SSIA 2001-2022 信息技术应用创新产品评估规范 第1部分：应用软件 2022-06-30
- T/CASME 405-2023 室内游戏游艺设备 互动网球 2023-05-18
- T/HBSEA 001-2021 湖北省国家鼓励的软件企业评价标准 2021-10-14
- T/SDBDA 30-2022 电线电缆智能工厂构建规范 2022-03-18
- T/SA 40-2021 农机物联网数据交换通用技术要求 2021-10-15
- T/CESA 1124-2020 信息安全技术 人脸比对模型安全技术规范 2020-11-24