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GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则

GB/T 4937.1-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 1:General

国家标准 中文简体 现行 页数：6页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937.1-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L40/49 半导体分立器件
国际标准分类号（ICS）
31.080.10 二极管
发布日期
2006-08-23
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。

发布历史

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GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则-第1页
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则-第2页
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则-第3页
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则-第4页

研制信息

起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：
陈海蓉、崔波
出版信息：
页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开

内容描述

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    替代以下标准
    部分代替GB/T 4937-1995
    GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
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