GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
GB/T 4937.12-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12:Vibration,variable frequency
国家标准
中文简体
现行
页数：5页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
发布历史
-
2018年09月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
I臼31.080.01
L40GB
中华人民共和国国家标准
GB/T4937.12-2018/IEC60749-12:2002
半导体器件机械和气候试验方法
第12部分：扫频振动
Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods一
Part12:Vibration,variablefrequency
(IEC60749-12:2002,IDT)
2019-01-01实施
2018-09-17发布
国家市场监督管理总局也士
中国国家标准化管理委员会保叩
GB/T4937.12-2018/IEC60749-12:2002
前
GB/T4937《半导体器件机械和气候试验方法》自以下部分组成：
一一第1部分2总则；
一一第2部分：低气压；
一一第3部分z外部目栓z
一一第4部分z强加速稳态湿热试验（HAST);
一一第5部分＝稳态温湿度偏置寿命试验F
一一第6部分z高温贮存；
一一第7部分＝内部水汽含量测试和其他残余气体分析；
一一第8部分z密封s
一一第9部分z标志耐久性s
一一第10部分：机械冲击；
一一第11部分：快速温度变化双液槽法F
一一第12部分z扫频振动；
一一第13部分z盐雾z
一一第14部分z引出端强度〈引线牢固性）I
一一第15部分：通孔安装器件的耐焊接热F
一一第16部分：粒子碰撞噪声检测（PINO)I
一一第17部分E中子辐照；
一一
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