GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

I臼31.080.01

L40GB

中华人民共和国国家标准

GB/T4937.12-2018/IEC60749-12:2002

半导体器件机械和气候试验方法

第12部分：扫频振动

Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods一

Part12:Vibration,variablefrequency

(IEC60749-12:2002,IDT)

2019-01-01实施

2018-09-17发布

国家市场监督管理总局也士

中国国家标准化管理委员会保叩

GB/T4937.12-2018/IEC60749-12:2002

前

GB/T4937《半导体器件机械和气候试验方法》自以下部分组成：

一一第1部分2总则；

一一第2部分：低气压；

一一第3部分z外部目栓z

一一第4部分z强加速稳态湿热试验（HAST);

一一第5部分＝稳态温湿度偏置寿命试验F

一一第6部分z高温贮存；

一一第7部分＝内部水汽含量测试和其他残余气体分析；

一一第8部分z密封s

一一第9部分z标志耐久性s

一一第10部分：机械冲击；

一一第11部分：快速温度变化双液槽法F

一一第12部分z扫频振动；

一一第13部分z盐雾z

一一第14部分z引出端强度〈引线牢固性）I

一一第15部分：通孔安装器件的耐焊接热F

一一第16部分：粒子碰撞噪声检测（PINO)I

一一第17部分E中子辐照；

一一