GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度(引线牢固性)

ICS31.080.01

L40

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT4937.142018IEC60749-142003

半导体器件机械和气候试验方法

:()

第部分引出端强度引线牢固性

14

——

SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods

:()

Part14Robustnessofterminationsleadinterit

gy

(:,)

IEC60749-142003IDT

2018-09-17发布2019-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—/:

GBT4937.142018IEC60749-142003

前言

/《》:

半导体器件机械和气候试验方法由以下部分组成

GBT4937

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第部分总则

1

———:;

第部分低气压

2

———:;

第部分外部目检

3

———:();

第部分强加速稳态湿热试验

4HAST

———:;

第部分稳态温湿度偏置寿命试验

5

———:;

第部分高温贮存

6

———:;

第部分内部水汽含量测试和其他残余气体分析

7

———:;

第部分密封

8

———:;

第部分标志耐久性

9

———:;

第部分机械冲击

10

———:;

第部分快速温度变化双液槽法

11

———:;

第部分扫频振动

12

———:;

第部分盐雾

13

———:();

第部分引出端强度引线牢固性

14

———:;

第部分通孔安装器件的耐焊接热

15

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第部分粒子碰撞噪声检测

16PIND

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