GB/T 15524-1995 非广播磁带录像机可靠性要求和试验方法
GB/T 15524-1995 Reliability requirements and testing methods for non-broadcast video tape recorders
基本信息
发布历史
-
1995年04月
研制信息
- 起草单位:
- 电子工业部三所、七八四厂、七六一厂
- 起草人:
- 王锡江、张维祥、何勤、赵龙根
- 出版信息:
- 页数:10页 | 字数:18 千字 | 开本: 大16开
内容描述
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中华人民共和国国家标准
GB/T15524-1995
非广播磁带录像机可靠性要求和
试验方法
Reliabilityrequirementsandtestingmethods
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fornon-broadcastvideotaperecorders
1995-04-06发布1995-11-01实施
彖技术监督局发布
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中华人民共和国国家标准
非广播磁带录像机可靠性要求和
GB/T15524-1995
试验方法
Reliabilityrequirementsandtestingmethods
fornon-broadcastvideotaperecorders
1主题内容与适用范围
本标准规定了非广播磁带录像机(以下简称录像机)的可靠性要求和试验方法。
本标准适用于录像机的可靠性鉴定试验和可靠性验收试验。
本标准假定录像机在使用寿命阶段的失效分布服从指数分布规律。
2引用标准
GB3187可靠性基本名词术语及定义
GB4013录音录像术语
国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页
GB5080.7设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
GB/T14306VHS盒式录像磁带
术语、符号
MTBF——平均无故障时间。
仇一一平均无故障时间假设值的上限值。
久——平均无故障时间假设值的下限值。
久——平均无故障时间单侧区间估计下限值。
%—平均无故障时间的预计值。
«—生产方风险,即录像机的实际平均无故障时间等于仇时被拒收的概率。
卩——使用方风险,即录像机的实际平均无故障时间等于久时被接收的概率。
n„.—-鉴别比,即%与久的比值,D„.=仇/久。
ro——可接收的失效上限数。
本标准采用的术语均按GB3187和GB4013的规定。
4可靠性要求
4.1本标准采用平均无故障时间(MTBF)作为录像机的可靠性指标。
4.2产品标准中应规定平均无故障时间,其下限值可从以下系列中选取:8000、10000,12000,
15000,20000h(不包括超过1000h时损坏的易损件:磁头、传动带、橡胶件、毛毡件)。
4.3录像机的平均无故障时间下限值应不低于8000h。
国家技术监督局1995-04-06批准1995-11-01实施
GB/t15524-1995
5试验类型
根据产品研制的不同阶段和不同的试验目的,可靠性试验分为可靠性鉴定试验和可靠性验收试验。
5.1可靠性鉴定试验
可靠性鉴定试验用于验证生产方设计或生产的录像机是否符合本标准规定的可靠性要求。可靠性
鉴定试验的结果作为下列情况下判定录像机的可靠性是否符合要求的依据。
a.设计定型;
b.生产定型;
C.设计、工艺有重大变更之后的鉴定。
5.2可靠性验收试验
可靠性验收试验用于验证生产方在连续批量生产中能否维持可靠性鉴定所达到的可靠性水平。
6统计试验方案
本标准规定采用定时截尾和序贯截尾两种统计试验方案,验证录像机平均无故障时间(MTBF)真
值,并确定录像机是否满足规定的可靠性要求。
6.1定时截尾试验方案
录像机定时截尾试验方案应符合GB5080.7和本标准表1的规定。选用的原则按6.1.1条及6.1.2
条的规定。
在试验过程中失效的录像机及时修复(或更换)后继续进行试验,直到方案规定的时间截尾。
表1
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判决风险率判决标准(失效数”)
%总试验时间T
方案编号鉴别比Q”
(久的倍数)拒收接收
a(大于或等于)(小于或等于)
1101039.3065
2201036.6843
3102035.4043
4202034,2832
6.1.1可靠性鉴定试验方案
录像机的可靠性鉴定试验应采用表1中的试验方案2。
根据试验方案2,按积累的泊松函数可得到:
T=nto=6.6801
本方案中取^0=668h,对应于不同久的试验样品数”见表2„
GB/T15524-1995
表2
久,h800010000120001500020000
T,h534406680080160100200133600
加,台80100120150200
to,h668
厂03
6.1.2可靠性验收试验方案
产品的可靠性验收试验应采用表1中的试验方案4„
根据试验方案4,按积累的泊松函数可得到:
T=nto=4.2801(2)
本方案中取io=668h,对应于不同久的试验样品数”见表3。
表3
久,h*800010000120001500020000
T,
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