适用范围：主要技术内容:本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于验证Si\GaN\SiC材料任意封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等半导体功率器件的使用寿命，进行加速失效分析间歇工作寿命的试验设备

适用范围：主要技术内容:本文件规定了电容器高温老化检测系统的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于各种轴向、径向、表贴式等封装形式电容器进行高温老化试验的检测系统

适用范围：范围:本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备; 主要技术内容:本文件规定了混合信号半导体器件测试设备（以下简称测试设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标识、包装、运输和贮存

适用范围：主要技术内容:本文件规定了混合信号半导体器件测试设备（以下简称测试设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标识、包装、运输和贮存。本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备

适用范围：范围:本标准规定了锂离子电池模组测试系统的术语与定义、技术要求、试验方法、标志、运输和贮存等内容。 本标准适用于直流电压大于等于20 V、小于等于750 V的电池模组测试设备，被测试对象是锂离子电池模组，以应用于电动汽车的锂离子动力蓄电池包和系统为主; 主要技术内容:规定了锂离子电池模组测试系统的术语与定义、技术要求、试验方法、标志、运输和贮存等内容