国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：GB/T 20176-2006 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials适用范围：本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质（用注入硼的参考物质校准）确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。它适用于均匀掺杂硼浓度范围从1×10 16 atoms/cm 3~1×10 20 atoms/cm3。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-03-27 | 实施时间： 2006-11-01收藏 -
废止
译：JB/T 5482-2004 X-ray crystal orientation apparatus technical specification【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2004-06-17 | 实施时间： 2004-11-01收藏
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废止
译：DB31/T 315-2004 The calibration method for transmission electron microscope magnification【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-DB31)上海市地方标准 | 发布时间： 2004-05-18 | 实施时间： 2004-08-01收藏
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现行
译：GB/T 19500-2004 General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2004-04-30 | 实施时间： 2004-12-01收藏
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废止
译：GB 7667-2003 The dose of X-rays leakage from electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-20 | 实施时间： 2004-05-01收藏
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废止
译：DB31/T 297-2003 Scanning electron microscope calibration method for magnification【国际标准分类号(ICS)】 ：33.100电磁兼容性(EMC) 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-DB31)上海市地方标准 | 发布时间： 2003-10-28 | 实施时间： 2004-01-01收藏
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被代替
译：GB/T 18907-2002 Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180光学和光学测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-12-05 | 实施时间： 2003-05-01收藏
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废止
译：GB/T 15245-2002 Quantitative analysis of rare earth element(REE)oxides by electron probe microanalysis(EPMA)【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 18873-2002 General specification of transmission electron microscope(TEM)—X-ray energy dispersive spectrum(EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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现行
译：GB/T 15617-2002 Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15244-2002 Quantitative analysis of glass by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15246-2002 Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 18735-2002 General specification of nanometer thin standard specimen for analytical transmission electron microscopy(AEM/EDS)【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-05-22 | 实施时间： 2002-12-01收藏
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被代替
译：GB 7247.1-2001 Safety of laser products—Part 1:Equipment classification, requirements and user's guide【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2001-11-05 | 实施时间： 2002-05-01收藏
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被代替
译：GB 18151-2000 Laser guards【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-07-24 | 实施时间： 2000-12-01收藏
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废止
译：JB/T 9351-1999 General specification of packaging for electron optical instrument【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-10 | 实施时间： 2000-01-01收藏
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废止
译：JB/T 8234-1999 Spectroscope【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01收藏
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现行
译：JB/T 9352-1999 Test method for the transmission electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01收藏
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废止
译：JB/T 9326-1999 Laser Raman spectrophotometer【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01收藏
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废止
译：JB/T 9323-1999 Photoelasticimeter【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01收藏
现行
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