国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译:JB/T 8231-1999 The basic parameters of the plane-gratings spectrographs【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1999-08-06 | 实施时间: 2000-01-01收藏 -
现行
译:GB/T 17722-1999 Gold-plated thickness measurement by SEM【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1999-04-11 | 实施时间: 1999-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17723-1999 Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1999-04-11 | 实施时间: 1999-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17506-1998 The method of electron probe microanalysis as corrosive layer on ferrous metals of ship【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-10-16 | 实施时间: 1999-07-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17507-1998 General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-10-16 | 实施时间: 1999-07-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17359-1998 General specification of X-ray EDS Quantitative analysis for EPMA and SEM【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17363-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on gold products【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17362-1998 Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17361-1998 Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM and XEDS【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
现行
译:GB/T 17365-1998 Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17364-1998 Non-damage quantitative analysis of gold content in gold products【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
现行
译:GB/T 17366-1998 Methods of mineral and rock specimen preparation for EPMA【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 17360-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01收藏 -
废止
译:JY/T 010-1996 General rules for analytical scanning electron microscopy【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-JY)行业标准-教育 | 发布时间: 1997-01-23 | 实施时间: 1997-04-01收藏 -
废止
译:GB 7667-1996 The dose of X-rays leakage from electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1996-08-13 | 实施时间: 1996-12-01收藏 -
现行
译:GB/T 6360-1995 Specification for laser radiation power and energy measuring equipment【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-07-24 | 实施时间: 1996-01-01收藏 -
被代替
译:GB/T 15616-1995 Quantitative method for electron probe microanalysis of metals and alloys【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1995-07-12 | 实施时间: 1996-02-01收藏 -
被代替
译:GB/T 15247-1994 Electron probe quantitative analysis method of carbon in carbon steel and low alloy steel—Sensitivity curve method (detection limit method)【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1994-10-17 | 实施时间: 1995-06-01收藏 -
废止
译:GB/T 15075-1994 Method for testing EPMA instrument【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1994-05-09 | 实施时间: 1994-12-01收藏 -
被代替
译:GB/T 15074-1994 General guide for EPMA quantitative analysis【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1994-05-09 | 实施时间: 1994-12-01收藏