• JB/T 9351-1999 电子光学仪器 包装通用技术条件 废止
    译:JB/T 9351-1999 General specification of packaging for electron optical instrument
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1999-08-10 | 实施时间: 2000-01-01
  • JB/T 8234-1999 看谱镜 废止
    译:JB/T 8234-1999 Spectroscope
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1999-08-06 | 实施时间: 2000-01-01
  • JB/T 9352-1999 透射电子显微镜 试验方法 现行
    译:JB/T 9352-1999 Test method for the transmission electron microscope
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1999-08-06 | 实施时间: 2000-01-01
  • JB/T 9326-1999 激光喇曼分光光度计 废止
    译:JB/T 9326-1999 Laser Raman spectrophotometer
    【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1999-08-06 | 实施时间: 2000-01-01
  • JB/T 9323-1999 光弹性仪 废止
    译:JB/T 9323-1999 Photoelasticimeter
    【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1999-08-06 | 实施时间: 2000-01-01
  • JB/T 8231-1999 平面光栅摄谱仪 基本参数系列 现行
    译:JB/T 8231-1999 The basic parameters of the plane-gratings spectrographs
    【国际标准分类号(ICS)】 :17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 1999-08-06 | 实施时间: 2000-01-01
  • GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 被代替
    译:GB/T 17722-1999 Gold-plated thickness measurement by SEM
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1999-04-11 | 实施时间: 1999-12-01
  • GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法 被代替
    译:GB/T 17723-1999 Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1999-04-11 | 实施时间: 1999-12-01
  • GB/T 17506-1998 船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法 被代替
    译:GB/T 17506-1998 The method of electron probe microanalysis as corrosive layer on ferrous metals of ship
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-10-16 | 实施时间: 1999-07-01
  • GB/T 17507-1998 电子显微镜 X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件 被代替
    译:GB/T 17507-1998 General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-10-16 | 实施时间: 1999-07-01
  • GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 被代替
    译:GB/T 17359-1998 General specification of X-ray EDS Quantitative analysis for EPMA and SEM
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • GB/T 17363-1998 黄金制品的电子探针定量测定方法 被代替
    译:GB/T 17363-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on gold products
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法 被代替
    译:GB/T 17362-1998 Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • GB/T 17361-1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法 被代替
    译:GB/T 17361-1998 Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM and XEDS
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • GB/T 17365-1998 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法 被代替
    译:GB/T 17365-1998 Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • GB/T 17364-1998 黄金制品中金含量的无损定量分析方法 被代替
    译:GB/T 17364-1998 Non-damage quantitative analysis of gold content in gold products
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • GB/T 17360-1998 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法 被代替
    译:GB/T 17360-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • GB/T 17366-1998 矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法 被代替
    译:GB/T 17366-1998 Methods of mineral and rock specimen preparation for EPMA
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1998-05-08 | 实施时间: 1998-12-01
  • JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则 废止
    译:JY/T 010-1996 General rules for analytical scanning electron microscopy
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-JY)行业标准-教育 | 发布时间: 1997-01-23 | 实施时间: 1997-04-01
  • GB 7667-1996 电子显微镜X射线泄漏剂量 废止
    译:GB 7667-1996 The dose of X-rays leakage from electron microscope
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 :N33电子光学与其他物理光学仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1996-08-13 | 实施时间: 1996-12-01