适用范围：GB/T 11297的本部分规定了采用波长为632.8 nm的光波沿单轴光学晶体光轴方向消光比的测量方法。 本部分适用于采用波长为632.8 nm、1 064 nm、830 nm、514 nm、488 nm、458 nm的光波对单轴和等轴光学晶体的消光比测量。

适用范围：本标准规定了频率控制和选择压电元件用人造石英晶体原晶和制材的术语和定义、技术要求、测量方法、检验规则及使用指南。 本标准适用于制造频率控制和选择压电元件用人造石英晶体。

适用范围：GB/T 12859的本部分规定了电子设备中振荡电路用压电陶瓷谐振器的术语和试验方法。 本部分给出了电子元器件质量评定体系及其鉴定批准的分规范和空白详细规范中使用的标准术语、检查程序和试验方法。

适用范围：GB/T 12274的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器的试验方法和通用性要求。 本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器。

适用范围：本标准规定了声表面波和声体波器件用压电单晶材料型号命名方法。 本标准适用于声表面波和声体波器件用压电单晶材料型号命名方法。 本标准不适用于人造石英晶体材料型号命名方法。

适用范围：优先额定值见GB/T 12273—1996的2.3。 ——工作温度范围； ——电路条件； ——最大激励电平； ——激励电平测量； ——气候类别； ——机械试验严酷度。 按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IECQC 001005得到。

适用范围：GB/T 12859的本部分规定了自总规范GB/T 12859.1—2012中选取的优先额定值和特性，以及适用的质量评定程序、适用的试验方法和测量方法。 本部分适用于GB/T 12859电子设备的压电陶瓷谐振器，但不适用于无引线谐振器和多振子谐振器或带有其他电子元件的谐振器。

适用范围：本部分规定的声表面波滤波器广泛应用于电视，卫星通讯，光纤通讯和移动通讯等领域。由于这些声表面波滤波器具有不同的性能指标。所以可将其划分成一些基本类别。 本部分包括各种声表面波滤波器结构，这些声表面波滤波器结构的工作频率范围大约为10 MHz～3 GHz不等，相对带宽为中心频率的0.02％～100％。 制定本部分的目的不是进行理论解释，同时，本部分也不能解决实际中可能发生的问题。本部分旨在就用户定购一种新用途声表面波滤波器之前应考虑的一些基本问题加以阐述，从而使用户获得性能符合要求的产品。 本部分给出的标准以及由生产商发布的详细规范，定义了标称频率、通带带宽、通带波动、矩形系数以及终端阻抗等指标。该部分列举了大量的具有典型性能的各种声表面波滤波器。但是不应该过分强调使用者在任何情况下都应选择标准中的声表面波滤波器，他可能为了使用标准中的声表面波滤波器只是导致电路的微小改变。这点特别针对声表面波滤波器标称频率的选择上。

适用范围：GB/T 27700的本部分规定了用于能力批准程序或鉴定批准程序有质量评定的声表面波滤波器的试验方法和通用性要求。

适用范围：GB/T 22317的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的压电滤波器的试验方法和通用性要求。

适用范围：GB/T 22318的本部分适用于声表面波（SAW）谐振器（以下简称SAW谐振器）的试验方法。 本部分的4～6章给出了SAW谐振器电性能的测试方法细则。 本部分的7～20章给出了声表面波谐振器使用一定周期后，保持其电性能能力的试验方法。 完成上述规定的试验后，样品应能满足电性能要求。 附录A给出了定型试验方案及测试方法与顺序。也可用于拟定型型号产品的试验方案。使用该方案时应考虑下述问题： ——电性能要求； ——试验项目及程序； ——试验严酷度； ——为了验证是否所有的样品都成功地通过了试验，应规定在试验过程中和／或试验完成后需要进行检测的内容； ——进行试验的样品数量和不合格品的允许数量。 经过定型试验后的SAW谐振器不应在设备上使用或退回生产部门改作它用。

适用范围：GB/T 22318的本部分适用于振荡器用声表面波（SAW）谐振器（以下简称“谐振器”）。 GB/T 2421、GB/T 2423应与本部分一起使用。 本部分涵盖了多种类型的谐振器通用的检测与试验方法及一般原则。 详细规范应给出适用于每种类型谐振器的试验方法及特殊要求。 当本部分与详细规范发生冲突时，应优先采用详细规范。

适用范围：GB/T 22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC 60444-4:1988和IEC 60444-5:1995规定的零相位技术。 使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。 此外，本部分也适用于IEC 61240:1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1:1986和IEC 60444-4:1988。负载电容范围为10 pF或更高。本部分还规定了测量系统和CL片的校准。 本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C0、动态电容C1和动态电感L1的测量夹具，其频率范围为1 MHz～150 MHz，采用基于IEC 60444-5:1995的自动网络分析仪。