适用范围：本文件描述了压电、介电和静电振荡器，包括使用介电谐振器的振荡器（DRO）和使用薄膜体声波谐振器（FBAR）的振荡器的相位抖动测量方法，给出了关于相位抖动测量的指南,以精确地测量均方根抖动。 本测量方法采用相位噪声测量设备或相位噪声测量系统。 注1： 介电振荡器(DRO)和FBAR振荡器的测量在考虑中。 注2： 在不引起混淆的情况下，本文件中的“压电、介电和静电振荡器”简称为“振荡器”。

适用范围：本文件规定了石英晶体元件用晶体盒的术语和定义、技术要求、试验方法、包装、标志、储存和运输。本文件适用于石英晶体元件用晶体盒，包括基座、壳罩、引线、焊脚等部分。

适用范围：本文件规定了通信、测量仪器、雷达系统及消费电子产品等用射频（RF）声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件（如滤波器、双工器等）的非线性信号的测量方法。 本文件包括非线性的基本特性及测量指南，适用于射频SAW/BAW器件测量系统的建立及相应测量程序的制定。 本文件的目的不是解释理论，也不是试图覆盖实际环境中出现的所有可能情况，是要让用户在为新应用订购射频SAW/BAW器件前注意到某些更基本的问题，以保证用户得到满意的器件性能。

适用范围：本文件规定了采购能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的声表面波(SAW)谐振器的试验方法和通用性要求。

适用范围：本文件适用于双工器。双工器的作用是分离接收信号和发射信号，是双路无线通信中的关键元件。双工器通常用于CDMA制式的移动通信系统，如第二代移动通信系统(2G)中的窄带码分多址(NCDMA)、第三代移动通信系统(3G)中的宽带码分多址(WCDMA)/通用移动通信系统(UMTS)或第四代移动通信系统(4G)的长期演进(LTE)。本文件着眼于关于声表面波和体声波双工器的原理以及如何使用的一些基本问题，也就是用户为新型应用在采购声表面波和体声波双工器前将考虑的问题。本文件是为了保证用户得到满意的性能。由于声表面波和体声波双工器具有非常相似的使用性能，这两种双工器使用一个标准会方便用户。

适用范围：本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC 604445的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 604445或IEC 604448的π型网络或反射法为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。注： 本文件规定的测量方法不仅适用于AT切型，也适用于其他晶体切型和振动模式，如双转角切型和振动模式(IT,SC)和音叉晶体元件(通过使用高阻抗测试夹具)。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了无铅压电陶瓷雾化元件的技术要求与试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等基本规则。本文件适用于铅含量小于等于0.1 wt%（质量分数）的无铅压电陶瓷雾化元件的设计、制造和验收

适用范围：优先额定值包括：——工作温度范围；——气候类别；——机械试验严酷度。

适用范围：本文件规定了用于能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的声表面波滤波器的试验方法和通用性要求。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了通讯产品用石英晶体谐振器（以下简称“谐振器”）的基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存、质量承诺。本文件适用于通讯产品的表面贴装热敏电阻式谐振器

适用范围：主要技术内容:本文件规范了汽车电子用石英晶体谐振器的范围、术语和定义、分类和型号、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于汽车电子仪器仪表、中控台、控制器等电子产品，用于控制器、雷达等的表面贴装式石英晶体谐振器

适用范围：GB/T 12274的本部分适用于质量评定以能力批准为基础的、按定制产品或标准产品制作的石英晶体振荡器。 本部分规定了总规范IEC 60679-1中给出的优先额定值和特性以及试验和测量方法，并给出了石英晶体振荡器详细规范中采用的通用性能要求。 优先额定值可直接应用于标准产品，但是不一定适用于定制产品。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了频率控制和选择用压电器件陶瓷封装基座的术语和定义、技术要求、检验方法、包装、标志、储存和运输。本文件适用于频率控制和选择用压电器件陶瓷封装基座

适用范围：主要技术内容:本文件规定了石英晶体微天平晶片的术语和定义、材料、技术要求、测量程序，检验规则及标志、包装、运输、贮存。本文件适用于石英晶体微天平晶片

适用范围：主要技术内容:本标准规定了压电陶瓷电声元件的高温贮存、高温工作、低温贮存、低温工作、温度循环、恒定湿热、振动、碰撞、冲击、自由跌落、高温寿命、可焊性、耐焊接热、耐高温、耐高电压、工作失效率等可靠性试验的一般要求、试验方法和程序、试验记录、合格判据和报告要求。本标准适用于压电陶瓷电声元件的研制、生产、使用、第三方检测等环节需要的可靠性试验

适用范围：本标准规定了膜厚监控用石英晶振片的产品分类、技术要求、试验和测量方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存的要求。本标准适用于半导体、LED、OLED、激光红外、光学镜片器材等行业镀膜用膜厚监控石英晶振片。