GB/T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则
GB/T 19501-2013 Microbeam analysis—General guide for electron backscatter diffraction analysis
国家标准
中文简体
现行
页数:12页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 19501-2013
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2013-07-19
实施日期
2014-03-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会( SAC/TC 38)
适用范围
本标准规定了电子背散射衍射分析方法。
本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
发布历史
-
2004年04月
-
2013年07月
研制信息
- 起草单位:
- 宝钢集团中央研究院
- 起草人:
- 姚雷、田青超、郑芳、顾佳卿、陈家光
- 出版信息:
- 页数:12页 | 字数:22 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS71.040.50
G04
中华人民共和国国家标准
/—
GBT195012013
代替/—
GBT195012004
微束分析电子背散射衍射分析方法通则
—
MicrobeamanalsisGeneraluideforelectronbackscatterdiffractionanalsis
ygy
2013-07-19发布2014-03-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
/—
GBT195012013
前言
本标准按照/—给出的规则起草。
GBT1.12009
本标准代替/—《电子背散射衍射分析方法通则》。
GBT195012004
/—,:
本标准与GBT195012004相比主要内容变化如下
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增加了规范性引用文件见第章
2
———,();
增加或修改了部分术语删除晶粒夹角见第章
3
———
定制服务
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