GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

GB/T 42969-2023 Displacement damage test method for components

国家标准中文简体现行页数：9页 | 格式：PDF

基本信息

标准号

GB/T 42969-2023

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L56 半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2023-09-07

实施日期

2024-01-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

适用范围

本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。

发布历史

2023年09月

GB/T 42969-2023　元器件位移损伤试验方法

当前标准现行 2023-09-07

文前页预览

研制信息

起草单位：: 中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学

起草人：: 罗磊、于庆奎、唐民、朱恒静、张洪伟、郑春、陈伟、丁李利、汪朝敏、李豫东、文林、薛玉雄

出版信息：: 页数：9页 | 字数：19 千字 | 开本：大16开

内容描述

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

/—

GBT429692023

元器件位移损伤试验方法

Dislacementdamaetestmethodforcomonents

pgp

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT429692023

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

。。

请注意本文件的某些内容可

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