GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱
GB/T 35316-2017 Collection of metallographs on defects of sapphire crystal
国家标准
中文简体
现行
页数：19页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 35316-2017
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2017-12-29
实施日期
2018-07-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
适用范围
本标准规定了蓝宝石晶体缺陷的术语和定义、形貌特征及产生原因。
本标准适用于蓝宝石单晶材料制备中各种缺陷的检验和分析。
本标准适用于蓝宝石单晶材料制备中各种缺陷的检验和分析。
发布历史
-
2017年12月
研制信息
- 起草单位：
- 中国科学院上海光学精密机械研究所、上海大恒光学精密机械有限公司、中国科学院新疆理化技术研究所、新疆紫晶光电技术有限公司、有色金属技术经济研究院、江苏浩瀚蓝宝石科技有限公司、苏州恒嘉晶体材料有限公司、江苏吉星新材料有限公司、东莞市中镓半导体科技有限公司、天津三安光电有限公司、江西东海蓝玉光电科技有限公司、丹东新东方晶体仪器有限公司
- 起草人：
- 徐民、杭寅、潘世烈、张方方、赵兴俭、韦建、贺东江、吴成荣、蔡金荣、徐永亮、丁晓民、王笃祥、李国平、赵松彬、杨素心
- 出版信息：
- 页数：19页 | 字数：36 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS29.045
H80
中华人民共和国国家标准
/—
GBT353162017
蓝宝石晶体缺陷图谱
Collectionofmetallorahsondefectsofsahirecrstal
gpppy
2017-12-29发布2018-07-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
/—
GBT353162017
前言
本标准按照/—给出的规则起草。
GBT1.12009
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(/)与全国半导体设备和材料标准
SACTC203
化技术委员会材料分技术委员会(/
定制服务
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