GB/T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器
GB/T 20870.1-2007 Semiconductor devices—Part 16-1:Microwave integrated circuits—Amplifiers
国家标准
中文简体
现行
页数:33页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 20870.1-2007
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2007-02-09
实施日期
2007-09-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本部分规定了微波集成电路放大器的术语、基本额定值、特性以及测试方法。
发布历史
-
2007年02月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子科技集团公司第五十五研究所
- 起草人:
- 黄玉英、林妹红
- 出版信息:
- 页数:33页 | 字数:58 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- YS/T 1713-2024 矿物绝缘电缆用铜棒、线坯 2024-10-24
- YS/T 1714-2024 连接器用铍铜丝 2024-10-24
- YS/T 1712-2024 紧固件用铜合金空心型材 2024-10-24
- YS/T 1716-2024 高强高导铜铁合金棒线材 2024-10-24
- YS/T 264-2024 高纯铟 2024-10-24
- YS/T 422.4-2024 碳化铬化学分析方法 第4部分:硅含量的测定 钼蓝分光光度法 2024-10-24
- YS/T 641-2024 半导体封装用键合铝丝 2024-10-24
- YS/T 678-2024 半导体封装用键合铜丝 2024-10-24
- YS/T 981.1-2024 高纯铟化学分析方法 第1部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 2024-10-24
- YS/T 422.3-2024 碳化铬化学分析方法 第3部分:铁含量的测定 邻菲罗啉分光光度法 2024-10-24