GB/T 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法

GB/T 42975-2023 Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

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基本信息

标准号

GB/T 42975-2023

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L56 半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2023-09-07

实施日期

2024-01-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

适用范围

本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。

发布历史

2023年09月

GB/T 42975-2023　半导体集成电路驱动器测试方法

当前标准现行 2023-09-07

文前页预览

研制信息

起草单位：: 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司

起草人：: 刘芳、周俊、杨晓强、纵雷、刘凡、霍玉柱、林瑜攀、陆坚、梁希、王会影

出版信息：: 页数：26页 | 字数：52 千字 | 开本：大16开

内容描述

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

/—

GBT429752023

半导体集成电路驱动器测试方法

—

SemiconductorinteratedcircuitsTestmethodofdriverdevice

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT429752023

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………1

5静态参数测试……………2

输入高电平电压()………………

5.1VIH2

输入低电平电压()………………

5.2VIL3

输入钳位电压()…………………

5.3VIK3

输入高电平电流()………………

5.4I4

输入低电平电流()………………

5.5I5

输入阻抗()………………………

5.6RIN6

输出高电平电压()……………

5.7VOH6

输出低电平电压()………………

5.8VOL7

输出阻抗()……………………

5.9ROUT8

输出漏电流()…………………

5.10I9

输出

定制服务

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