GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

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GBT429752023

半导体集成电路驱动器测试方法

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SemiconductorinteratedcircuitsTestmethodofdriverdevice

g

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

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GBT429752023

目次

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………1

5静态参数测试……………2

输入高电平电压()………………

5.1VIH2

输入低电平电压()………………

5.2VIL3

输入钳位电压()…………………

5.3VIK3

输入高电平电流()………………

5.4I4

IH

输入低电平电流()………………

5.5I5

IL

输入阻抗()………………………

5.6RIN6

输出高电平电压()……………

5.7VOH6

输出低电平电压()………………

5.8VOL7

输出阻抗()……………………

5.9ROUT8

输出漏电流()…………………

5.10I9

LK

输出