GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1555-1997 Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1997-12-22
实施日期
1998-08-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-
发布历史
-
1997年12月
-
2009年10月
-
2023年08月
研制信息
- 起草单位：
- 峨嵋半导体材料厂
- 起草人：
- 康自卫、刘文魁、王鸿高
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：12 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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