GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法
GB/T 14140.1-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method
基本信息
标准号
GB/T 14140.1-1993
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1993-02-06
实施日期
1993-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年02月
研制信息
- 起草单位：
- 洛阳单晶硅厂
- 起草人：
- 王从赞、夏光勤
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- NY/T 4460.2-2025 节粮减损技术规范 第2部分：小麦 2025-01-09
- NY/T 4458-2025 软米梗稻生产技术规程 2025-01-09
- NY/T 4460.3-2025 节粮减损技术规范 第 3 部分:玉米 2025-01-09
- NY/T 4456-2025 水稻二化螟抗性鉴定技术规程 2025-01-09
- NY/T 4462-2025 小麦全蚀病抗性鉴定技术规程 2025-01-09
- NY/T 4457-2025 水稻细菌性穗枯病抗性鉴定技术规程 2025-01-09
- NY/T 4464-2025 小麦种质资源表型鉴定技术规程 2025-01-09
- NY/T 4460.1-2025 节粮减损技术规范 第1部分：水稻 2025-01-09
- NY/T 4461-2025 小麦根腐病抗性鉴定技术规程 2025-01-09
- NY/T 4463-2025 小麦茎基腐病抗性鉴定技术规程 2025-01-09