YS/T 1011-2014 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

ICS77.120.70

H13

中华人民共和国有色金属行业标准

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YST10112014

高纯钴化学分析方法

杂质元素含量的测定

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辉光放电质谱法

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Methodsforchemicalanalsisofhihuritcobalt

ygpy

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Determinationofimuritelementscontent

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Glowdischaremasssectrometr

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2014-10-14发布2015-04-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

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YST10112014

高纯钴化学分析方法

杂质元素含量的测定

辉光放电质谱法

1范围

,。

本标准规定了高纯钴中杂质元素的测定方法测定元素见表1

,/

本标准适用于高纯钴中杂质元素含量的测定各元素质量分数测定范围为0.1k~

μgg

/。

20000k

μgg

2方法原理

,,

在氩气气氛下试样作为阴极进行辉光放电其表面原子被溅射而脱离试样进入辉光放电等离子体

,,

中在等离子体中离子化后被导入质谱仪在每一元素同位素质量数处以预设的扫描点数和积分时间对

,。,“”

相应谱峰积分所得面积即为谱峰强度无标样时计算机根据仪器软件中的典型相对灵敏度因子自

;,、

动计算出各待测元素的质量分数有标样时需通过在与被测样品相同的分析条件离子源结构以及测

,。

试条件下对标准样品进行独立测定获得灵敏度因子应用该灵敏度因子计算出各元素的质量分数

(),

通过应用每个杂质元素与基体元素的比值即相对灵敏度因子RSF可以从质谱图中计算

XM

ㅤㅤㅤㅤ

。()、

出试验样品的组分含量相对灵敏度因子RSF是通过在与试验样品相同的分析条件离子源结构以

及测试方案下对标准样品进行独立分析得到的。

()、()(),

选择适当的同位素丰度因子AXAY和相对灵敏度因子RSF并根据质谱图中的相关同

ij

()()(),“”“”。

位素离子强度IXi和IYj计算离子束比IBR并对元素X和Y的相对质