• SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法 废止
    译:SJ 2354.8-1983 Method of measurement for pulse rise time and fall time of PIN and avalanche photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1983-08-15 | 实施时间: 1984-07-01
  • SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则 废止
    译:SJ 2354.1-1983 General procedures of measurement for electrical and optical parameters of PIN and avalanche photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1983-08-15 | 实施时间: 1984-07-01
  • SJ 2354.13-1983 PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 废止
    译:SJ 2354.13-1983 Method of measurement for multiplication factor of PIN and avalanche photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1983-08-15 | 实施时间: 1984-07-01
  • SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法 废止
    译:SJ 2354.9-1983 Method of measurement for noise equivalent power of PIN and avalanche photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1983-08-15 | 实施时间: 1984-07-01
  • SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法 废止
    译:SJ 2354.7-1983 Method of measurement for spectral response curve and spectral response range of PIN and avalanche photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1983-08-15 | 实施时间: 1984-07-01
  • SJ 2354.14-1983 PIN、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 废止
    译:SJ 2354.14-1983 Method of measurement for excess noise factor of PIN and avalanche photodiodes
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 1983-08-15 | 实施时间: 1984-07-01
  • T/CVIA 116-2023 Micro LED显示屏通用技术规范 中大尺寸显示屏 现行
    译:T/CVIA 116-2023 Micro LED display common technical specification for medium and large size displays
    适用范围:本文件界定了80吋及以上Micro LED显示屏的术语定义。规定了Micro LED显示屏分类、技术要求、质量检验规范、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本文件适用于80吋及以上Micro LED显示屏包含Micro LED商用显示屏、Micro LED电视机、Micro LED监视器等的设计、生产、采购及验收。本文件不适用于医疗设备用、电影放映用等特殊用途显示产品。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: - | 实施时间: -
  • T/CSA 100-2025 Micro-LED芯片光电性能测试方法 现行
    译:T/CSA 100-2025 Micro-LED chip optical performance testing methods
    适用范围:本文件描述了单色Micro-LED芯片的光电性能测试方法。 本文件适用于发光台面(mesa)的长边边长(或直径)在1 μm~50 μm范围内的单色Micro-LED芯片的光电性能测试评估。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: - | 实施时间: -
  • T/ZSA 136-2022 微型计算机用外挂式薄膜触摸显示屏技术规范 现行
    译:T/ZSA 136-2022 Microcomputer External Mounting Thin Film Touch Display Specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:() | 发布时间: - | 实施时间: -
  • T/CSA 099-2025 Micro-LED芯片外量子效率测试方法 现行
    译:T/CSA 099-2025 The test method for external quantum efficiency of Micro-LED chips
    适用范围:本文件描述了低功率(nW~μW)微型发光二极管(以下简称Micro-LED)的外量子效率(EQE)测量方法,包括:Micro-LED芯片的点测和LED封装的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: - | 实施时间: -