SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则
SJ 2354.1-1983 General procedures of measurement for electrical and optical parameters of PIN and avalanche photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2354.1-1983
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1983-08-15
实施日期
1984-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1983年08月
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:3页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/SDACM 001-2024 正常高值血压常见中医证候 临床诊断标准 2024-05-31
- T/CVMA 171-2024 猪圆环病毒1型、2型、3型三重荧光PCR检测方法 2024-07-04
- T/SSBME 001-2024 医疗器械 上市后研究和风险管控计划 编写指南 2024-09-06
- T/GDNAS 054-2024 脑卒中偏瘫患者良肢位摆放技术 2024-07-24
- T/CRHA 070-2024 达芬奇机器人手术体位安置 2024-08-05
- T/CCCMHPIE 1.96-2024 植物提取物 薏苡仁提取物 2024-06-25
- T/BPMA 12-2024 北京市人口死亡登记报告基本数据集 2024-07-30
- T/CACM 1112-2023 女性生理周期调养治未病干预指南 2023-03-23
- T/HENANPA 014-2024 消化内镜肠道准备药学服务规范 2024-05-19
- T/CRHA 068-2024 伤口治疗门诊设置要求 2024-08-05