SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ 2354.5-1983 Method of measurement for capacitance of PIN and avalanche photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2354.5-1983
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1983-08-15
实施日期
1984-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1983年08月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB50/ 1806-2025 页岩气开采水污染物排放标准 2025-03-24
- DB50/T 867.74-2025 安全生产技术规范 第74部分:石油库 2025-03-24
- DB50/T 706-2025 儿童福利机构类家庭服务规范 2025-03-24
- DB50/T 1804-2025 乡村振兴劳务品牌人员等级评定 重庆小面师傅 2025-03-24
- DB50/T 867.71-2025 安全生产技术规范 第71部分:城市供水企业 2025-03-24
- DB50/T 866-2025 社区养老服务设施建设规范 2025-03-24
- DB50/T 867.72-2025 安全生产技术规范 第72部分:连锁经营住宿企业 2025-03-24
- DB50/T 867.73-2025 安全生产技术规范 第73部分:天然气液化工厂 2025-03-24
- DB50/T 1805-2025 重庆火锅美食街评定规范 2025-03-24
- DB50/T 1808-2025 “一表通”智能报表市级业务数据规范 2025-03-24