SJ 2354.12-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
SJ 2354.12-1983 Method of measurement for temperature factor of reverse breakdown voltage of PIN and avalanche photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2354.12-1983
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1983-08-15
实施日期
1984-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1983年08月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 17178.1-1997 信息技术 开放系统互连 一致性测试方法和框架 第1部分：基本概念 1997-12-25
- GB/T 17176-1997 信息技术 开放系统互连 应用层结构 1997-12-25
- GB/T 17174.2-1997 信息处理系统 文本通信 可靠传送 第2部分：协议规范 1997-12-25
- GB/T 17179.1-1997 信息技术 提供无连接方式网络服务的协议 第1部分：协议规范 1997-12-25
- GB/T 17175.1-1997 信息技术 开放系统互连 管理信息结构 第1部分：管理信息模型 1997-12-25
- GB/T 17174.1-1997 信息处理系统 文本通信 可靠传送 第1部分：模型和服务定义 1997-12-25
- GB/T 17175.2-1997 信息技术 开放系统互连 管理信息结构 第2部分：管理信息定义 1997-12-25
- GB/T 17173.3-1997 信息技术 开放系统互连 分布式事务处理 第3部分：协议规范 1997-12-25
- GB/T 17177.1-1997 信息技术 文本与办公系统 引用数据传送 第1部分：抽象服务定义 1997-12-25
- GB/T 17177.2-1997 信息技术 文本与办公系统 引用数据传送 第2部分：协议规范 1997-12-25