SJ 2354.10-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
SJ 2354.10-1983 Method of measurement for cross-light factor of PIN and avalanche photodiodes matrix
基本信息
标准号
SJ 2354.10-1983
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1983-08-15
实施日期
1984-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1983年08月
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：2页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB65/T 4004-2017 数码电子雷管控制器组网性能测试规范 2017-05-15
- DB65/T 3913-2017 黑大片籽瓜高产栽培技术规程 2017-05-10
- DB65/T 4003-2017 公路工程试验检测设备数据采集规范 2017-05-25
- DB65/T 4005-2017 社区电子终端网格化管理规范 2017-05-30
- DB65/T 4007-2017 番茄移栽机作业技术规程 2017-06-15
- DB51/T 2327-2017 变绿异燕麦种子检验技术与质量分级 2017-05-19
- DB65/T 4009-2017 安全防护用刀片刺绳 2017-06-01
- DB51/T 2326-2017 家蚕品种耐高温多湿性能检测技术规程 2017-05-19
- DB65/T 4008-2017 果蔬烘干机 2017-06-15
- DB65/T 3914-2017 籽瓜全程机械化栽培技术规程 2017-05-10