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SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法

SJ 2354.11-1983 Method of measurement for width of blind zone of PIN and avalanche photodiode matrix

行业标准-电子 中文(简体) 废止 已被新标准代替，建议下载标准 SJ/T 2354-2015 | 页数：11页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ 2354.11-1983
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
中国标准分类号（CCS）
L53 半导体发光器件
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1983-08-15
实施日期
1984-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-

发布历史

文前页预览

SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法-第1页
SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法-第2页
SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法-第3页

研制信息

起草单位：
-
起草人：
-
出版信息：
页数：11页 | 字数：- | 开本： -

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