1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 行业标准 >
  4. SJ 2354.6-1983

SJ 2354.6-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法

SJ 2354.6-1983 Method of measurement for responsivity of PIN and avalanche photodiodes

行业标准-电子 中文(简体) 废止 已被新标准代替，建议下载标准 SJ/T 2354-2015 | 页数：1页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ 2354.6-1983
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
中国标准分类号（CCS）
L53 半导体发光器件
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1983-08-15
实施日期
1984-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-

发布历史

文前页预览

当前资源暂不支持预览

研制信息

起草单位：
-
起草人：
-
出版信息：
页数：1页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    关联标准

    同系列标准
    SJ 2354 第1部分
    SJ 2354.1-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则
    第1部分 废止
    SJ 2354 第2部分
    SJ 2354.2-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
    第2部分 废止
    SJ 2354 第3部分
    SJ 2354.3-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
    第3部分 废止
    SJ 2354 第4部分
    SJ 2354.4-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
    第4部分 废止
    SJ 2354 第5部分
    SJ 2354.5-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法
    第5部分 废止
    SJ 2354 第7部分
    SJ 2354.7-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
    第7部分 废止
    SJ 2354 第8部分
    SJ 2354.8-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
    第8部分 废止
    SJ 2354 第9部分
    SJ 2354.9-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
    第9部分 废止
    SJ 2354 第10部分
    SJ 2354.10-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
    第10部分 废止
    SJ 2354 第11部分
    SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法
    第11部分 废止
    SJ 2354 第12部分
    SJ 2354.12-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
    第12部分 废止
    SJ 2354 第13部分
    SJ 2354.13-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
    第13部分 废止
    SJ 2354 第14部分
    SJ 2354.14-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
    第14部分 废止
    被以下标准替代
    SJ/T 2354-2015
    SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
    现行

    相似标准推荐

    更多>