GB/T 44937.5-2025 集成电路 电磁发射测量 第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法

GB/T 44937.5-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions— Part 5:Measurement of conducted emissions—Workbench Faraday Cage method

国家标准 中文简体 即将实施 页数:24页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 44937.5-2025
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2025-12-31
实施日期
2026-07-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
适用范围
本文件描述了安装在标准化试验板或其最终应用的印制电路板(PCB)上的集成电路(IC)的传导电磁发射测量工作台法拉第笼法。
本文件适用于在物理尺寸小的试验板上使用的能执行“独立”功能的IC。

文前页预览

研制信息

起草单位:
中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、中山大学、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、青岛市产品质量检验研究院、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、北京邮电大学、北京无线电计量测试研究所、江苏省计量科学研究院(江苏省能源计量数据中心)、中国信息通信研究院、博鼎实华(北京)技术有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、中国合格评定国家认可中心、长沙芯连心智慧系统有限责任公司、中家院(北京)检测认证有限公司、河北工业大学、北京福测电子仪器有限公司、苏州菲利波电磁技术有限公司
起草人:
崔强、李志鹏、方文啸、吴建飞、王沛栋、付君、赵扬、朱赛、梁吉明、雷黎丽、石丹、孙美秋、刘星汛、周雷、王紫任、刘宝殿、谭泽强、刘佳、李彦鹏、徐新、王蒙军、兰德福、崔培宾
出版信息:
页数:24页 | 字数:31 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T449375—2025

.

集成电路电磁发射测量第5部分

:

传导发射测量工作台法拉第笼法

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part5Measurementofconductedemissions—WorkbenchFaradaCaemethod

:yg

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T449375—2025

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

通则

4………………………1

测量原理

4.1……………1

布置原理

4.2……………2

工作台方法

4.3…………………………2

试验条件

5…………………2

试验设备

6…………………2

试验布置

7…………………3

通则

7.1…………………3

屏蔽和环境场强

7.2……………………3

工作台布置

7.3…………………………3

的连接

7.4PCB…………………………3

共模点

7.5………………4

发射限值

7.6……………4

工作台法拉第笼具体实现

7.7———……………………4

试验

7.8PCB……………5

试验程序

8…………………5

试验报告

9…………………5

通则

9.1…………………5

发射判据

9.2……………5

发射电平

9.3……………6

附录资料性共模阻抗

A()………………7

附录规范性工作台法拉第笼详细规范

B()(WBFC)…………………8

机械参数

B.1……………8

网络校准

B.2150Ω……………………9

附录资料性工作台的使用

C()…………12

工作台描述

C.1…………………………12

噪声源描述

C.2…………………………12

附录资料性限值推导

D()………………14

参考文献

……………………15

GB/T449375—2025

.

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

本文件是集成电路电磁发射测量的第部分已经发布了以下

GB/T44937《》5。GB/T44937

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分辐射发射测量表面扫描法

———3:;

第部分传导发射测量直接耦合法

———4:1Ω/150Ω;

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法

———5:;

第部分传导发射测量磁场探头法

———6:;

第部分辐射发射测量带状线法

———8:IC。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院北京智芯微电子科技有限公司中山大学天津先进

:、、、

技术研究院厦门海诺达科学仪器有限公司青岛市产品质量检验研究院北京国家新能源汽车技术创

、、、

新中心有限公司北京邮电大学北京无线电计量测试研究所江苏省计量科学研究院江苏省能源计量

、、、(

数据中心中国信息通信研究院博鼎实华北京技术有限公司中国汽车工程研究院股份有限公司

)、、()、、

中国合格评定国家认可中心长沙芯连心智慧系统有限责任公司中家院北京检测认证有限公司

、、()、

河北工业大学北京福测电子仪器有限公司苏州菲利波电磁技术有限公司

、、。

本文件主要起草人崔强李志鹏方文啸吴建飞王沛栋付君赵扬朱赛梁吉明雷黎丽石丹

:、、、、、、、、、、、

孙美秋刘星汛周雷王紫任刘宝殿谭泽强刘佳李彦鹏徐新王蒙军兰德福崔培宾

、、、、、、、、、、、。

GB/T449375—2025

.

引言

为规范集成电路电磁发射测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方

,

法集成电路电磁发射测量规定了集成电路电磁发射测量的通用条件定义和不同测

,GB/T44937《》、

量方法的试验程序和试验要求拟由个部分构成

,9。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分通用条件和定义近场扫描数据交换格式目的在于规定近场扫描数据交换

———1-1:。

格式

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分辐射发射测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———3:。。

第部分传导发射测量直接耦合法目的在于规定直接耦合法的

———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

试验程序和试验要求

第部分传导发射测量直接耦合法应用指南目的在于给出直

———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

接耦合法应用指导

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序

———5:。

和试验要求

第部分传导发射测量磁场探头法目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求

———6:。。

第部分辐射发射测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。IC。

GB/T449375—2025

.

集成电路电磁发射测量第5部分

:

传导发射测量工作台法拉第笼法

1范围

本文件描述了安装在标准化试验板或其最终应用的印制电路板上的集成电路的传导电

(PCB)(IC)

磁发射测量工作台法拉第笼法

本文件适用于在物理尺寸小的试验板上使用的能执行独立功能的

“”IC。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

电工术语电路理论

GB/T2900.74

电工术语电磁兼容

GB/T4365

集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义

GB/T44937.1—20251:

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T2900.74、GB/T4365GB/T44937.1—2025。

4通则

41测量原理

.

工作台方法源自见图该文件中描述的方法假设电源电缆和信号电缆都

GB/T17626.6—2017,1。

与电缆尺寸的试验板相连电缆尺寸不大于λ例如时为这些连接电缆成为主要的

,/2,1GHz0.15m。

天线因此这些天线发射能产生射频发射

,“”。

连接电缆应具有供电通信和其他信号接口等功能且这些电缆通常与同一平面内的其他电缆的几

、,

何走向不同

每个端口的天线共模阻抗归一化为在不同频段该阻抗具有不同的允差见附录通过

()150Ω,,A。

测量这些共模阻抗上的电压或电流来表征射频发射

封装产生的直接辐射小与实际应用中连接到上的电缆的辐射相比通常能忽略不计对于

IC,IC,,

封装能将作为附加测量方法由于电源电流和信号电流会流过的参考层因

IC,GB/T44937.2。PCB,

此也能建立通过封装和的电压和电流之间的间接耦合

ICPCB。

根据试验原理工作台方法能表明试验板布局电源去耦所用分立元件电容电感的射频

,、IC、(、)

性能以及所采取的措施例如片上去耦斜率控制的输出缓冲器等对的影响不同的受试

(RF)(、)IC。IC

应使用类似的运行模式通过软件或功能以便进行比较此外也能对一个的不同运行模式进行比

()。,IC

较即确定内部各个块的贡献

,IC。

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