GB/T 44937.2-2025 集成电路电磁发射测量第2部分：辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室法

GB/T 44937.2-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 2:Measurement of radiated emissions—TEM cell and wideband TEM cell method

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基本信息

标准号

GB/T 44937.2-2025

标准类型

国家标准

标准状态

即将实施

中国标准分类号（CCS）

L56 半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2025-12-31

实施日期

2026-07-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

归口单位

全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)

适用范围

本文件描述了一种测量集成电路（IC）电磁辐射的方法。受试IC需安装在一块IC试验印制电路板（PCB）上，该PCB固定在横电磁波（TEM）小室或者吉赫兹横电磁波（GTEM）小室顶部或底部切割出的一个匹配端口（称为壳体端口）上。该PCB不像通常用法位于小室内，而是作为小室壁面的一部分。本方法适用于任何修改后增加了壳体端口的TEM小室或GTEM小室（见附录B）。但是，被测的射频（RF）电压将会受到很多因素的影响。影响被测RF电压的主要因素是芯板和IC试验PCB（小室壳体）之间的距离。
本方法使用1 GHz TEM小室（芯板与地平面距离为45 mm）和GTEM小室（芯板与匹配端口区域地平面平均距离为45 mm）进行试验。其他小室或许不用产生同样的频谱输出，但只要频率和灵敏度特性允许，也能用作比较测量使用。对于地平面与芯板间距不同的TEM小室或GTEM小室产生的测量数据，在应用修正系数后再进行比较。
IC试验PCB控制着工作的IC相对于小室的几何位置和方向，避免了IC在小室内的任何电缆连接（这些线缆布置于PCB背面，位于小室外部）。TEM小室的一个50 Ω端口端接50 Ω负载。TEM小室的另一个50 Ω端口或GTEM小室的唯一一个50 Ω端口，连接到频谱分析仪或接收机的输入端，用以测量IC产生的并传递在小室芯板上的射频发射。

发布历史

2025年12月

GB/T 44937.2-2025　集成电路电磁发射测量第2部分：辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室法

当前标准即将实施 2025-12-31

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研制信息

起草单位：: 中国电子技术标准化研究院、浙江诺益科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、海研芯(青岛)微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中山大学、苏州泰思特电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司、中国家用电器研究院、南京信息工程大学、广州赛宝计量检测中心服务有限公司、海军电磁兼容研究检测中心、中国合格评定国家认可中心、福州物联网开放实验室有限公司、极氪汽车(宁波杭州湾新区)有限公司、中国北方车辆研究所、中国信息通信研究院、合兴汽车电子(太仓)有限公司、深圳市必联电子有限公司、中航光电科技股份有限公司、柳州汽车检测有限公司、重庆新民康科技优先公司、拢泽(上海)技术有限公司

起草人：: 郑益民、崔强、付君、黄雪梅、吴建飞、方文啸、朱赛、张治中、胡小军、李焕然、符荣杰、王新才、梁吉明、褚瑞、李齐、菅端端、张洁、谭泽强、亓新、陈彦、张勇、刘佳、赖秋辉、朱崇铭、赵骥、王紫任、李旺、刘海涛、郭辉、张吉宇、陈小勇、鲍宇航

出版信息：: 页数：20页 | 字数：31 千字 | 开本：大16开

内容描述

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T449372—2025/IEC61967-22005

集成电路电磁发射测量

第2部分辐射发射测量TEM小室和

宽带TEM小室法

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part2Measurementofradiatedemissions—TEMcelland

widebandTEMcellmethod

IEC61967-22005Interatedcircuits—Measurementofelectromanetic

(:,gg

emissions150kHzto1GHz—Part2Measurementofradiatedemissions—

TEMCellandwidebandTEMCellmethodIDT

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T449372—2025/IEC61967-22005

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

概述

4………………………2

试验条件

5…………………2

通则

5.1…………………2

供电电压

5.2……………2

频率范围

5.3……………2

试验设备

6…………………2

通则

6.1…………………2

屏蔽

6.2…………………2

射频测量仪器

6.3………………………2

前置放大器

6.4…………………………2

小室

6.5TEM……………2

宽带小室

6.6TEM(GTEM)……………3

终端

6.750Ω……………3

系统增益

6.8……………3

试验布置

7…………………3

通则

7.1…………………3

试验配置

7.2……………3

试验

7.3PCB……………4

试验程序

8…………………5

通则

8.1…………………5

测量环境噪声

8.2………………………6

检查工作状态

8.3DUT………………6

测量发射

8.4DUT……………………6

试验报告

9…………………6

通则

9.1…………………6

测量条件

9.2……………6

发射参考电平

10IC………………………6

附录资料性校准和布置验证表示例

A()………………7

附录资料性小室和宽带小室描述

B()TEMTEM……………………8

小室

B.1TEM………

定制服务

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