GB/T 44937.8-2025 集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法

GB/T 44937.8-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8:Measurement of radiated emissions—IC stripline method

国家标准 中文简体 即将实施 页数:20页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 44937.8-2025
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2025-12-31
实施日期
2026-07-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
适用范围
本文件描述了使用带状线测量集成电路(IC)电磁辐射发射的方法。被评估IC安装在IC带状线结构的有效导体和地平面之间的EMC试验板(PCB)上。

发布历史

文前页预览

研制信息

起草单位:
中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯(青岛)微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、浙江诺益科技有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、中山大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司、北京无线电计量测试研究所、天津大学、中国信息通信研究院、长沙芯连心智慧系统有限责任公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、广州广电计量检测(上海)有限公司、思科系统(中国)研发有限公司、福州物联网开放实验室有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、中家院(北京)检测认证有限公司、中国合格评定国家认可中心、亚锐檀桐检测技术(上海)有限公司、国网电力科学研究院有限公司
起草人:
付君、崔强、靳冬、吴建飞、乔磊、王新才、方文啸、朱赛、徐蛟、叶畅、梁吉明、李楠、褚瑞、黄雪梅、郑益民、陈梅双、龙发明、吴倩、王晓迪、刘星汛、臧琦、王紫任、李彦鹏、冯星辉、江峰、楼建全、赖秋辉、连恒兴、焦璨、刘佳、邓勇、鞠文静
出版信息:
页数:20页 | 字数:23 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

集成电路电磁发射测量

第8部分辐射发射测量IC带状线法

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part8Measurementofradiatedemissions—ICstrilinemethod

:p

IEC61967-82023IDT

(:,)

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

概述

4………………………2

试验条件

5…………………2

通则

5.1…………………2

电源电压

5.2……………2

频率范围

5.3……………2

试验设备

6…………………2

通则

6.1…………………2

射频测量仪器

6.2………………………3

前置放大器

6.3…………………………3

带状线

6.4IC……………3

终端

6.550Ω……………3

试验布置

7…………………3

通则

7.1…………………3

试验配置

7.2……………3

试验板

7.3EMC(PCB)…………………4

试验程序

8…………………4

通则

8.1…………………4

环境条件

8.2……………4

运行检查

8.3……………4

带状线射频特性的验证

8.4IC…………4

试验技术

8.5……………5

试验报告

9…………………5

通则

9.1…………………5

测量条件

9.2……………5

发射参考电平

10IC………………………5

附录规范性带状线的描述

A()IC………………………6

通则

A.1…………………6

带状线结构的特性阻抗

A.2……………7

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

不同有效导体高度的转换

A.3…………7

带状线的结构示例

A.4IC………………8

附录资料性发射电平规范

B()…………9

范围

B.1…………………9

概述

B.2…………………9

发射电平规范

B.3………………………9

结果表述方式

B.4………………………9

参考文献

……………………11

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

本文件是集成电路电磁发射测量的第部分已经发布了以下

GB/T44937《》8。GB/T44937

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分辐射发射测量表面扫描法

———3:;

第部分传导发射测量直接耦合法

———4:1Ω/150Ω;

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法

———5:;

第部分传导发射测量磁场探头法

———6:;

第部分辐射发射测量带状线法

———8:IC。

本文件等同采用集成电路电磁发射测量第部分辐射发射测量带

IEC61967-8:2023《8:IC

状线法

》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院天津先进技术研究院北京智芯微电子科技有限公

:、、

司海研芯青岛微电子有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司广州市诚臻电子科技有限公司工业

、()、、、

和信息化部电子第五研究所中国汽车工程研究院股份有限公司浙江诺益科技有限公司深圳市中兴

、、、

微电子技术有限公司中山大学北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司上海机动车检测认证技

、、、

术研究中心有限公司北京无线电计量测试研究所天津大学中国信息通信研究院长沙芯连心智慧系

、、、、

统有限责任公司河南省电子信息产品质量检验技术研究院广州广电计量检测上海有限公司思科

、、()、

系统中国研发有限公司福州物联网开放实验室有限公司北京中电华大电子设计有限责任公司

()、、、

中家院北京检测认证有限公司中国合格评定国家认可中心亚锐檀桐检测技术上海有限公司

()、、()、

国网电力科学研究院有限公司

本文件主要起草人付君崔强靳冬吴建飞乔磊王新才方文啸朱赛徐蛟叶畅梁吉明

:、、、、、、、、、、、

李楠褚瑞黄雪梅郑益民陈梅双龙发明吴倩王晓迪刘星汛臧琦王紫任李彦鹏冯星辉江峰

、、、、、、、、、、、、、、

楼建全赖秋辉连恒兴焦璨刘佳邓勇鞠文静

、、、、、、。

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

引言

为规范集成电路电磁发射测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方

,

法集成电路电磁发射测量规定了集成电路电磁发射测量的通用条件定义和不同测

,GB/T44937《》、

量方法的试验程序和试验要求拟由个部分构成

,9。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分通用条件和定义近场扫描数据交换格式目的在于规定近场扫描数据交换

———1-1:。

格式

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分辐射发射测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———3:。。

第部分传导发射测量直接耦合法目的在于规定直接耦合法的

———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

试验程序和试验要求

第部分传导发射测量直接耦合法应用指南目的在于给出直

———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

接耦合法应用指导

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序

———5:。

和试验要求

第部分传导发射测量磁场探头法目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求

———6:。。

第部分辐射发射测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。IC。

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

集成电路电磁发射测量

第8部分辐射发射测量IC带状线法

:

1范围

本文件描述了使用带状线测量集成电路电磁辐射发射的方法被评估安装在带状线结

(IC)。ICIC

构的有效导体和地平面之间的试验板上

EMC(PCB)。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

国际电工术语第部分电路理论

IEC60050-131131:[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Part131:Circuittheory]

注电工术语电路理论

:GB/T2900.74—2008(IEC60050-131:2002,MOD)

国际电工术语第部分电磁兼容

IEC60050-161161:[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Part161:Electromagneticcompatibility]

注电工术语电磁兼容

:GB/T4365—2024(IEC60050-161:2021,MOD)

集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义

IEC61967-11:(Integratedcircuits—Meas-

urementofelectromagneticemissions—Part1:Generalconditionsanddefinitions)

注集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义

:GB/T44937.1—20251:(IEC61967-1:2018,IDT)

电磁兼容第部分试验和测量技术横电磁波波导中的发射和抗

IEC61000-4-204-20:(TEM)

扰度试验

[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-20:Testingandmeasurementtechniques—

Emissionandimmunitytestingintransverseelectromagnetic(TEM)waveguides]

注电磁兼容试验和测量技术横电磁波波导中的发射和抗扰度试验

:GB/T17626.20—2014(TEM)(IEC

61000-4-20:2010,IDT)

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义适用于本文件

IEC61967-1、IEC60050-131IEC60050-161。

31

.

横电磁波模transverseelectromagneticTEMmode

()

传输方向上的电场和磁场分量比横截面上的主方向分量少得多的波导模式

32

.

TEM波导TEMwaveguide

开放或封闭的传输线系统电磁波在其中以波模传输以产生满足试验需要的特定场

,TEM。

33

.

IC带状线ICstripline

由以规定间距放置在扩大的接地平面上的有效导体每一端具有连接端口和可选的屏蔽壳体组成

()

1

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