T/BIIA 081-2026 基于深度学习的工业缺陷检测系统技术规范
T/BIIA 081-2026 The technical specifications for an industrial defect detection system based on deep learning
团体标准
中文(简体)
现行
页数：0页
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格式：PDF
基本信息
标准号
T/BIIA 081-2026
标准类型
团体标准
标准状态
现行
发布日期
2026-07-20
实施日期
2026-07-20
发布单位/组织
-
归口单位
北京信息产业协会
适用范围
-
发布历史
-
2026年07月
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研制信息
- 起草单位：
- 探物智能科技(广东)有限公司、太原科技大学、中国地质大学(武汉)、东莞理工学院、南京大学、上海光至达科技有限公司、中国特种设备检测研究院、西南科技大学、广东技安科技有限公司、太原理工大学
- 起草人：
- 周国华、谢新林、陈彬、梅爽、黄晓园、邹宁睦、武颖娜、周云奕、李强、何红亮、曾文君、谢刚、王银、王红成、张耿、张天瑞、陈思霖、赵文晶、李林娟
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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