GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

ICS31.200

L56

中华人民共和国国家标准

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GBT364772018

半导体集成电路

快闪存储器测试方法

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Semiconductorinteratedcircuit

g

Measurinmethodsforflashmemor

gy

2018-06-07发布2019-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

中国国家标准化管理委员会

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GBT364772018

目次

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………1

4.1设备和条件…………………………1

4.2电参数测试向量……………………1

5详细要求…………………2

5.1输出高电平电压和输出低电平电压………………2

5.2输入高电平电压和输入低电平电压………………3

5.3输入高电平电流和输入低电平电流………………5

5.4输出高电平电流和输出低电平电流………………5

5.5输出高电阻状态电流………………6

5.6电源电流和漏电流…………………6

5.7传输时间……………7

5.8建立时间和保持时间………………9

5.9延迟时间……………11

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