GB/T 7352-2008 利用电离辐射源的电测量系统和仪表

ICS17．040．30

F86

a雷

中华人民共和国国家标准

GB／T

73521987

代替GB／T

利用电离辐射源的电测量系统和仪表

Electricalandinstrumentsradiationsource

ionizing

measuringsystemsutilizing

(IEC60476：1993，Nuclearmeasuring

andinstrumentsradiationsource——

systemsutilizingionizing

General

aspects，NEQ)

2008—07-02发布2009—04—01实施

丰瞀鹳鬻瓣警糌瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会“”。

7352--2008

GB／T

目次

前言………………··…····………………’’’’……………’………

1范围……·……··……’……………’’’’………’。

2规范性引用文件………··…·………………’’’………………’

3术语和定义……………···……………·…’…’’

3．1测量系统…··…···…………………’………‘

3．2测量系统外部有关的项目和量…………··…’’’……………

4技术要求……·………………·……………’……’……………‘

4．1通用要求…………………··……………’…’。

4．2特殊要求…………·····………………·………………’’’……………’……‘

5试验方法……………··……’……I，，，，加加m坞M

5．1一般要求…………·…···……’

5．2特殊要求……………··…………………’…一

6检验规则……………·…………………’’………

6．1检验的分类……··…·……………’’’…………

6．2出厂检验…·………………·………………’’…………’……

6．3型式检验……………···………………·…·…………………

7标志、包装、运输和贮存···……………………一

7．1标志……………·-·………………·。。……………’’’……………’’。………一

7．2包装………·…·…………………’…………一

7．3运输………·…………………‘

7．4贮存……………··…·………………·………‘

附录A(资料性附录)利用电离放射源的电测量系统的内部特性和外部特性M坫”"¨"碍M”¨珀加

图1模拟系统对输入阶跃增量的典型时间响应0

图2数字系统对输入阶跃变化的典型时间响应0

图3线性度……………···……‘‘0

表1正常工作大气条件…·…一n

表2供电电源……………··…·

表3绝缘电阻限值…·…………

表4绝缘强度试验的试验电压值

表5电磁兼容性评估等级……·

表6绝缘强度试验设备的功率一

表7参比条件和一般试验条件u心坨¨¨¨

7352--2008

GB／T

前言

本标准对应于IEC60476：1993<<核仪器利用电离辐射源的电测量系统和仪表一般特性》，与

IEC

60476：1993一致性程度为非等效。

7352--1987《利用放射源的电测量仪表》。

本标准代替GB／T

本标准与GB／T7352—1987的主要差别如下：

——标准名称改为《利用电离辐射源的电测量系统和仪表》}

——更新和增添了规范性引用文件(见第2章)；

——按IEC60476增添了术语和定义(见第3章)；

——增加了电磁兼容性的要求(见4．1．4．4)；

——增加了“检验规则”一章，对出厂检验和型式检验作了原则性的规定，为制定具体的产品标准提

供了依据(见第6章)；

——增加了“标志、包装、运输和贮存”一章，使标准的结构完整(见第7章)；

——删除原标准的附录A和附录B；

——附录A中放入IEC60476：1993第4．2中的特性。

本标准的附录A为资料性附录。

本标准由中国核工业集团公司提出。

30)归口。

本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC／TC

本标准起草单位：上海工业自动化仪表研究所、核工业标准化研究所、深圳计量质量检测研究院。

本标准主要起草人：李佳嘉、熊正隆、周迎春、蔡闻智、许晓蔚、李名兆。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为：

——GB／T7352—1987。

7352--2008

GB／T

利用电离辐射源的电测量系统和仪表

1范围

本标准规定了利用电离辐射源的电测量系统和仪表的术语、技术要求、试验方法、检验规则以及标

志、包装、运输和贮存。

本标准适用于利用电离辐射源的电测量系统和仪表，可为制定有关产品标准提供基础，也可作为制

造厂与用户之间签订协议的指南。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

1912008，ISO780：1997，MOD)

GB／T191包装储运图示标志(GB／T

IEC60079

GB3836．10：1998)

2000爆炸性气体环境用电气设备第1部分：通用要求(eqv

IEC

GB60079—1：1990)

3836．2—2000爆炸性气体环境用电气设备第2部分：隔爆型…d(eqv

GBIEC60079—11：

3836．4—2000爆炸性气体环境用电气设备第4部分：本质安全型“i”(eqv

1999)

GB2919：1999，MOD)

4075--2003密封放射源一般要求和分级(ISO

GB／T8993—1998核仪器环境条件与试验方法

10257

GB／T2001核仪器和核辐射探测器质量检验规则

11684

GB／T2003核仪器电磁环境条件与试验方法

11806--2004。IAEA

GBNo．TS-R一1：1996／2003，IDT)

11806放射性物质安全运输规程(GB

15479--1995工业自动化仪表绝缘电阻、绝缘强度技术要求和试验方法

GB／T

IEC610004)

17626(所有部分)电磁兼容试验和测量技术(idt

GB／T

18271．2

GB／T2000过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序第2部分：参比条件下

IEC61298

的试验(idt2：1995)

18271．3—2000过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序第3部分：影响量影响

GB／T

IEC61298—3：1998)

的试验(idt

2002

18871

GB／T电离辐射防护与辐射源安全基本标准

GB／T19661．1—2005核仪器及系统安全要求第1部分：通用要求

19661．260405：2003，

GB／T2005核仪器及系统安全要求第2部分：放射性防护要求(IEC

andclassificationofradiometric

NuclearinstrumentationConstructionalgauges，MOD)

requirments

EJ／T1059核仪器产品包装通用技术要求

3术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

3．1测量系统

3．1．1

厚度计(电离辐射)thicknessradiation)

gauge(ionizing

带有电离辐射源，并设计成可以利用电离辐射非破坏性测量物质的厚度或单位面积质量的测量装置。

j

7352--2008

GB／T

3．1．2

radiation)

密度计(电离辐射)densitygauge(ionizing

带有电离辐射源，并设计成可以利用电离辐射衰减或反散射的变化，测量均匀物质或多种物质混合

物的平均密度的测量装置。

3．1．3

radiation)

物位计(电离辐射)levelgauge(ionizing

带有电离辐射源，并设计成可测量物质表面或界面位置的测量装置。

3．1．4

measurement

透射式测量系统transmissionsystem

利用穿透被测物质的电离辐射进行测量的仪表系统。辐射源和探测器分别放置在被测物质相对的

两侧。系统可包括测量和校正不良影响量影响的补偿传感器。

3．1．5

measurement

反散射式测量系统back-scattersystem

利用测量被测物质以及与被测物质贴近的基体(衬底)物质反散射的电离辐射进行测量的仪表系

统。放射源和探测器放置在被测物质的同一侧。系统可包括测量和校正不良影响量影响的补偿传

感器。

3．1．6

measurement

fluorescence

荧光x射线测量系统X—raysystem

利用在被测物质或与被测物质贴近的(衬底)物质中激发的荧光x射线进行测量的仪表系统。系

统可包括测量和校正不良影响量影响的补偿传感器。

3．1．7

测量头head

measuring

测量部件measuringassembly

由一个或多个辐射源和辐射探测器以及能用来测量和校正不良影响量影响的任何补偿传感器或装

置一起组成的子部件。

3．1．8

源室source

housing

源部[组]件sourceassembly

测量头中包含辐射源、源容器和主屏蔽以及关闭机构等部分。

3．1。9

探测器室detector

housing

探测都[组]件detector

assembly

测量头中包含探测器的部分。该部件可以和源室做成一体，特别是反散射测量系统。

3．1．10

source

密封源sealed

密封在包壳内或与某种材料紧密结合的放射性物质。在规定的使用条件和正常磨损下，这种包壳

或结合材料能足以保持源的密封性。

3．1．11

电测量子部件electronicmeasuringsub-assembly

unit

处理单元processing

通过组合的电气和电子器件，用于处理测量头产生的电气量并为测量目的提供具有适宜值的电气

量的部件。

注：电测量子部件通常称为主机。

2

GB／T7352--2008

3．1．12

测试点test

point

测量系统中可以监测电信号的点。

3．1．12．1

test

测试点ApointA

测量系统中可以按其原始基本形式监测探测器输出信号的点。

注：对于积分电离室，这点通常是在前置放大器之后，并在任何变换成数字形式之前。

3．1．12．2

测试点Btest

pointB

测量系统中监测控制信号的点。在无控制输出的系统中不存在这一点。

3。1．72，3

测试点CtestC

point

测量系统中产生正常测量显示读数的点。

3．1．13

headmechanism

测量头安装架measuringsupporting

安装测量头的机械部件。

3．1．13．1

mechanism

固定式安装架fixed

固定不动的测量头安装架。

3．1．13．2

mechanism

回收式安装架retractable

能从测量位置缩回的测量头安装架。

3．1．13．3

mechanism

移动式安装架traversing

测量头可沿着被测物质进行横向或纵向一定范围移动的测量头安装架。

3．1．14

测量间距measuringgap

在透射式仪表中，它是置于被测物质两侧的源部件与探测部件相对面之间的最短距离。在反散射

式仪表中，它是从探测部件(或源部件)最靠近被测物质的面到被测物质最远表面(或基体物质表面)的

最短距离。

3．1．15

line

通行线pass

被测物在测量间距中的位置线。

3．1．16

line

参比通行线／参考通行线referencepass

在测量间距中对应于正常完成校准时的通行线。它通常以一个离源室表面或探测室表面的规定距

离来定义。

3．1．17

area

测量面积measurement

被测物置于参比通行线上，被来自源部件的有用电离辐射束照射的横截面积。

3．1．17．1

measurementarea

总测量面积total

参比通行线上能提供100％的输出信号的、给定被测物的最小面积。

3

7352--2008

GB／T

3．1．17．2

measurementarea

有效测量面积effective

为了提供输出信号和被测变量表之间的最佳校正，参比通行线上给定被测物质的面积。通常这个

面积为总测量面积的65％～95％。

注：当测量区内被测物质的质量(例如裂纹、粒度等)不均匀时，这个概念特别重要。

3．1．18

分辨力resolution

能够观察或者检测的被测量的最小变化。应考虑信号的统计特性和采样技术的影响。宜校正信号

过滤和数据测量时间对采样数据的影响。

3．1．19

resolution

系统几何分辨长度systemgeometricallength

在具有确定“质量／单位面积”的标准样品的指定方向上，在给定误差因素条件下能测量的最小长

度。例如，在用扫描测量系统测量厚度时，几何分辨长度是有效测量面积、仪表建立时间、测量头扫描速

度和累积数据采样时间等的函数。

3．1．20

不稳定性instability

在参比条件下且所有影响量保持恒定，被测量在有效测量范围内保持不变，仪器在规定时段输出信

号的变化。

3．1．20．1

电不稳定性electrical

instability

在参比条件下，当所有影响量保持恒定并且辐射探测器没有受到照