GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
GB/T 14141-1993 Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
基本信息
标准号
GB/T 14141-1993
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1993-02-06
实施日期
1993-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年02月
-
2009年10月
研制信息
- 起草单位：
- 峨眉半导体材料研究所
- 起草人：
- 张新、郑绪明
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：9 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB37/T 5307-2024 住宅小区供水设施建设标准 2024-12-19
- DB43/T 1975-2026 站用钢质无缝储气瓶组定期检验规则 2026-01-30
- DB11/T 3049-2026 商品信息数据采集要求 2026-01-26
- DB37/T 5308-2024 住宅小区燃气设施建设标准 2024-12-19
- DB11/T 3051-2026 养老机构老年人心理评估规范 2026-01-26
- DB11/T 3052-2026 信息技术应用创新 应用软件适配改造成本度量规范 2026-01-26
- DB11/T 3050-2026 突发职业中毒事件调查技术规范 2026-01-26
- GB/T 5497-2025 粮油检验 粮食、油料中水分的测定 2025-12-31
- DB11/T 3031-2026 大型游乐设施运营使用管理和维护保养规范 2026-01-26
- DB37/T 5061-2024 住宅小区供配电设施建设标准 2024-12-19