GB/T 42968.3-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入(BCI)法

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T429683—2025

.

集成电路电磁抗扰度测量

第3部分大电流注入BCI法

:()

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part3BulkcurrentinectionBCImethod

:j()

2025-12-02发布2025-12-02实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T429683—2025

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

通则

4………………………1

试验条件

5…………………2

通用要求

5.1……………2

试验设备

5.2……………2

试验板

5.3………………3

试验程序

6…………………4

电磁场危害

6.1…………………………4

正向功率限制的校准

6.2………………4

试验

6.3BCI……………5

试验布置表征程序

6.4BCI……………6

试验报告

7…………………7

附录资料性试验板和试验布置示例

A()RF……………8

附录资料性试验电平和频率步进选择示例

B()………9

附录资料性试验板和试验布置示例

C()BCI…………11

参考文献

……………………14

Ⅰ

GB/T429683—2025

.

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁抗扰度测量的第部分已经发布了以下

GB/T42968《》3。GB/T42968

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分大电流注入法

———3:(BCI);

第部分射频功率直接注入法

———4:;

第部分工作台法拉第笼法

———5:;

第部分辐射抗扰度测量带状线法

———8:IC;

第部分辐射抗扰度测量表面扫描法

———9:。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司河南

:、、

凯瑞车辆检测认证中心有限公司天津先进技术研究院厦门海诺达科学仪器有限公司北京智芯微电

、、、

子科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所中山大学中国汽车工程研究院股份有限公司南京

、、、、

容向测试设备有限公司北汽福田汽车股份有限公司中汽研新能源汽车检验中心天津有限公司

、、()、

国网电力科学研究院有限公司东南大学中国合格评定国家认可中心苏州泰思特电子科技有限公司

、、、、

青岛市产品质量检验研究院中国信息通信研究院北京福测电子仪器有限公司宇通客车股份有限公

、、、

司中家院北京检测认证有限公司广州汽车集团股份有限公司汽车工程研究院湖南进芯电子科技

、()、、

有限公司广州市爱浦电子科技有限公司

、。

本文件主要起草人付君崔强雷黎丽朱赛朱昨庆叶畅方文啸邹广才张红丽邵伟恒黄雪梅

:、、、、、、、、、、、

王文杰孙婧梁吉明邢立文李腾飞张洁杨志超周香刘佳胡小军王紫任兰德福张高杰张颖

、、、、、、、、、、、、、、

付国良易峰薛涛

、、。

Ⅲ

GB/T429683—2025

.

引言

为规范集成电路电磁抗扰度测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量

,

方法规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件定义和不同测量方法的试验程序和试

,GB/T42968、

验要求拟由个部分构成

,7。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽

———2:TEMTEM。TEM

带小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分大电流注入法目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求

———3:(BCI)。。

第部分射频功率直接注入法目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求

———4:。。

第部分工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求

———5:。。

第部分辐射抗扰度测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验

———8:IC。IC

要求

。

第部分辐射抗扰度测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429683—2025

.

集成电路电磁抗扰度测量

第3部分大电流注入BCI法

:()

1范围

本文件描述了在传导射频骚扰存在的情况下利用大电流注入法测量集成电路抗扰

(RF)(BCI)(IC)

度的试验方法例如由辐射骚扰引起的传导骚扰这种方法仅用于有板外连线的例如连

,,RFRF。IC,

接到电缆束本试验方法把电流注入到一根或一组线缆

。RF。

本文件为设备中的半导体器件在无用电磁波环境下工作时的评估建立公共基础

RF。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

集成电路电磁抗扰度测量第部分通用条件和定义

GB/T42968.1—20231:

3术语和定义

界定的术语和定义适用于本文件

GB/T42968.1—2023。

4通则

的抗扰度或敏感度的特性对于印制电路板的最佳设计滤波器选用以及进一步集

ICRF(),(PCB)、

成到电子系统都至关重要本文件定义了一种对由电磁骚扰产生的射频电流的抗扰度测量方法

。IC。

本方法是基于用于设备和系统的方法方法模拟由于辐射信号直接耦合到设备和系

BCI。BCIRF

统的线缆和电缆上而产生的感应电流

。

通常在电子系统中上的板外连接线或走线都可作为电磁场的天线通过这种耦合路径这

,,PCB。,

些电磁场会在的引脚上感应出电压和电流并可能产生干扰根据的具体应用其通常用于不同

IC,。IC,

的配置在这种情况下电子设备的抗扰度水平与承受电磁场影响的能力密切相关

。,IC。

为了表征的抗扰度需要测量引起功能失效的感应电流电平根据

ICRF,。GB/T42968.1—2023

中规定的性能分级功能失效可分为从个等级

,A~E5。

法的基本布置如图所示

BCI1。

1