GB/T 42968.9-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T429689—2025/IECTS62132-92014

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第9部分辐射抗扰度测量表面扫描法

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part9Measurementofradiatedimmunit—Surfacescanmethod

:y

IECTS62132-92014IDT

(:,)

2025-12-02发布2025-12-02实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T429689—2025/IECTS62132-92014

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语定义和缩略语

3、………………………1

术语和定义

3.1…………………………1

缩略语

3.2………………2

通则

4………………………2

试验条件

5…………………2

通则

5.1…………………2

电源电压

5.2……………3

频率范围

5.3……………3

试验设备

6…………………3

通则

6.1…………………3

屏蔽

6.2…………………3

骚扰发生器

6.3RF………………………3

电缆

6.4…………………3

近场探头

6.5……………3

探头定位和数据采集系统

6.6…………4

监测器

6.7DUT…………………………4

试验布置

7…………………5

通则

7.1…………………5

试验配置

7.2……………5

试验电路板

7.3…………………………5

探头定位系统软件设置

7.4……………5

软件

7.5DUT……………6

试验程序

8…………………6

通则

8.1…………………6

运行检查

8.2……………6

抗扰度试验

8.3…………………………6

试验报告

9…………………8

通则

9.1…………………8

试验条件

9.2……………8

Ⅰ

GB/T429689—2025/IECTS62132-92014

.:

探头设计和校准

9.3……………………8

试验数据

9.4……………8

后处理

9.5………………9

数据交换

9.6……………9

附录资料性近场探头校准

A()…………10

附录资料性电场探头和磁场探头

B()…………………14

附录资料性坐标系统

C()………………16

参考文献

……………………19

Ⅱ

GB/T429689—2025/IECTS62132-92014

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁抗扰度测量的第部分已经发布了以下

GB/T42968《》9。GB/T42968

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分大电流注入法

———3:(BCI);

第部分射频功率直接注入法

———4:;

第部分工作台法拉第笼法

———5:;

第部分辐射抗扰度测量带状线法

———8:IC;

第部分辐射抗扰度测量表面扫描法

———9:。

本文件等同采用集成电路电磁抗扰度测量第部分辐射抗扰度测

IECTS62132-9:2014《9:

量表面扫描法

》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院扬芯科技深圳有限公司北京智芯微电子科技有

:、()、

限公司天津先进技术研究院厦门海诺达科学仪器有限公司工业和信息化部电子第五研究所上海电

、、、、

器设备检测所有限公司厦门市产品质量监督检验院华东师范大学中国家用电器研究院北京航空航

、、、、

天大学北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司中国计量大学中国合格评定国家认可中心深圳

、、、、

市恒创技术有限公司中国汽车工程研究院股份有限公司中山大学北京高搏电磁兼容技术有限公司

、、、、

河南省电子信息产品质量检验技术研究院中家院北京检测认证有限公司上海机动车检测认证技术

、()、

研究中心有限公司重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司

、。

本文件主要起草人付君程江河陈梅双崔强杨红波吴建飞方文啸孙云龙李焕然邵鄂

:、、、、、、、、、、

梁吉明邢琳廉鹏飞亓新张艳艳阎照文李齐李燕刘佳杨志奇谭泽强高新杰李博弓兆博

、、、、、、、、、、、、、、

王晓迪伍强

、。

Ⅲ

GB/T429689—2025/IECTS62132-92014

.:

引言

为规范集成电路电磁抗扰度测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量

,

方法规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件定义和不同测量方法的试验程序和试

,GB/T42968、

验要求拟由个部分构成

,7。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分辐射抗扰度测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽

———2:TEMTEM。TEM

带小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分大电流注入法目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求

———3:(BCI)。。

第部分射频功率直接注入法目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求

———4:。。

第部分工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求

———5:。。

第部分辐射抗扰度测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验

———8:IC。IC

要求

。

第部分辐射抗扰度测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429689—2025/IECTS62132-92014

.:

集成电路电磁抗扰度测量

第9部分辐射抗扰度测量表面扫描法

:

1范围

本文件描述了评估近电场近磁场或近电磁场分量对集成电路影响的测量方法本测量方法

、(IC)。

旨在用于的架构分析例如平面规划和配电优化本测量方法也可用于测量扫描探头能够靠近的

IC,。、

安装在任何电路板上的某些情况下本测量方法不仅可扫描还可扫描的环境为了对比不

IC。,IC,IC。

同的表面扫描抗扰度宜使用规定的标准试验板

IC,IEC62132-1。

本测量方法提供了对其上方的电场或磁场近场骚扰的敏感度抗扰度图测量探头的性能和

IC()。

探头定位系统的精度决定了测量的分辨率本方法预期使用的最高频率为使用现有探头技术

。6GHz。

可扩展上限频率范围但这超出了本文件的范围本测量方法使用连续波幅度调制或

,。(CW)、(AM)

脉冲调制信号在频域进行

(PM)。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

国际电工术语第部分电路理论

IEC60050-131131:[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Part131:Circuittheory]

注电工术语电路理论

:GB/T2900.74—2008(IEC60050-131:2002,MOD)

国际电工术语第章电磁兼容

IEC60050-161161:[InternationalElectrotechnicalVocabulary

(IEV)—Chapter161:Electromagneticcompatibility]

注电工术语电磁兼容

:GB/T4365—2024(IEC60050-161:2021,MOD)

集成电路电磁抗扰度测量第部分通用条件和定义

IEC62132-1(150kHz~1GHz)1:(Inte-

gratedcircuits—MeasurementofElectromagneticImmunity,150kHzto1GHz—Part1:Generalcon-

ditionsanddefinitions)

注集成电路电磁抗扰度测量第部分通用条件和定义

:GB/T42968.1—20231:(IEC62132-1:2015,IDT)

集成电路电磁发射测量第部分辐射发射测量表面扫描法

IECTS61967-33:(Integrated

circuits—Measurementofelectromagneticemissions—Part3:Measurementofradiatedemissions—

Surfacescanmethod)

3术语定义和缩略语

、

31术语和定义

.

和界定的以及下列术语和定义适用于本文件

IEC62132-1、IEC60050-131IEC60050-161。

1